颗粒计数能够较好地预估磨损情况的严重性，并且很容易检测出颗粒从小到大的转变趋势。颗粒计数通常使用以下技术:光阻法、直接成像或孔阻塞柱塞法等技术。

1，关于光阻技术

      光阻技术，受到重合效应(颗粒重叠)和烟炱颗粒的干扰。因此，该方法仅适用于分析在污染控制工业中与机器内部接触较少的清洁半透明油液

2，关于直接成像

      直接成像技术，通过使用CCD传感器处理更大面积上的颗粒来计算重合效应。样品通过脉冲激光二极管照射，可以将稀释前样品的光通量提高到约2%，并克服样品中烟炱颗粒的影响。

3，孔阻塞柱塞法

     传统的孔阻塞装置类似于光学颗粒计数器，因为，其在颗粒物相对低的水平下就会达到量程上限，所以不适合于精确量化机器中严重污染磨损的样品。然而，它们在处理含有碳烟或水的油液样品时，更有优势，因为这些污染物可以顺利通过孔而不增加信号输出。这是孔堵塞技术优于光阻挡和直接成像技术的主要优点。