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全反射X荧光法(TXRF)测定石化产品中的痕量元素【EN】

时间:2017-12-17      阅读:759

本文使用全反射X射线荧光(TXRF)方法测定石化中间体或终产品中的痕量金属元素。该方法结合了基于内标(有机镓标样)的快速检测和简便的样品制备技术,即在载样片上沉积蒸发后的样品基质,以及有效的定量方法,检测限低于0.05μg/g,大多数情况下低于0.005μg/g。十五种元素(Ca, Cd, Co, Cr, Cu, Fe, Mn, Mo, Ni, Pb, Rh, Sn, Sr, V, Zn)在基质如石蜡,线型烷基苯,长链烷基醇和酯中测定出,典型金属元素含量低于1μg/g。将结果与基于ICP光谱测试的参考方法ASTM D5708(B)进行比较评估,TXRF方法表现出较的性和低偏差。

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