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Impac 600 Series红外测温仪
Impac 600 系列是一款数字模块化红外测温仪，提供高度可定制的设计，易于安装和维护。长波长 IN 600 适合对非金属或涂层金属物体进行非接触式温度测量。IS 600、IGA 600 和 IGA 600/23 使用短波长测量金属、陶瓷或石墨。IN 600/5 专为测量玻璃表面的温度而设计。 参考价￥1 -
MS300Inframet MS多传感测试系统
Inframet MS多传感测试系统可测量多种红外整机系统：热像仪，可见光-近红外相机，短波红外相机、激光测距机和多传感器测试系统等，进行全面测试和轴对准的测试。图像投影仪投射图像到中波/长波范围热像仪，由计算机系统生成的图像分析被检测热像仪。高精度的离轴反射式CDT平行光管，TCB差分黑体，以及一组红外靶标用于投影。 参考价面议 -
Inframet LS-SALInframet短波红外光源多通道宽波段可见光
Inframet短波红外光源多通道宽波段可见光，有四种工作模式，具有很高的动态范围、可连续调节光强度(能够模拟超亮的白天和黑夜)、计算机化设计，可用于测试可见光-短波红外相机(彩色/单色CCD / CMOS / ICCD / EBCCD相机、短波红外相机)，用于中/远程监测应用。 参考价￥300000 -
UV400 GaN基外延片测温仪
UV400 GaN基外延片测温仪用于GaN基外延的晶圆表面温度和反射率真实测量，温度范围650…1300℃ 参考价面议 -
Sekidenko OR4000E半导体薄膜高温计
Sekidenko OR4000E半导体薄膜高温计能够自动探测测量材料发射率，可用于RTP、HDP-CVD、MOCVDUV固化和其它各种半导体工艺过程。OR4000E型具有类似OR4000T的高速性能，并且兼具实时辐射率补偿的优点。其采用块化设计，可快速量身定制，满足不同的的工艺应用要求。 参考价面议 -
Sekidenko OR4000T 半导体高温计
Sekidenko OR4000T 半导体高温计可用于RTP、HDP-CVD、MOCVD、UV固化和其它各种半导体工艺过程，应用于半导体硅片，外延，晶圆镀膜等各种工艺的高精度测温;OR4000T型具备多通道能力，支持高达2kHz的读取速率，符合半导体应用中极为严格的要求。
其采用模块化设计，可快速量身定制。 参考价面议 -
Sekidenko OR400M半导体外延片测温仪
Sekidenko OR400M半导体外延片测温仪产品系列的应用范围扩展至3.3um-5.2um的中红外波长范围。OR400M可进行单通温度测量，用于半导体设备的高精密温度测量，用于硅片，腔室的精确测温。OR400M支持RS-232和模拟数据接口。OR400M设计紧凑，易于集成，可满足许多工艺应用的要求。 参考价面议 -
CDTInframet 离轴反射式平行光管 红外标准器
Inframet 离轴反射式平行光管 红外标准器采用垂直结构，平行光管的焦平面位于反射镜垂直方向的上方。这种类型的平行光管实现了测试系统的简单化结构设计（仅需较小、较窄的光学平台）。而且，垂直结构的平行光管更为优良之处在于系统用于热像仪的测试时，垂直结构的黑体温度的均匀性要优于使用相同模块的水平结构。 参考价面议 -
Model SSR version 6DS太阳光谱反射率测量仪
DS太阳光谱反射率测量仪Model SSR version 6太阳光谱反射率测量仪配备不同的太阳能测量光谱范围，供用户选择。SSR能够准确测量漫反射和镜面反射材料的太阳能吸收率和反射率，甚至可测第二表面反射体（最厚可测6.4mm）。太阳能反射率或吸收率的显示精度为0.001单元，重复精度在为0.003单元。 参考价￥820000 -
Mikron M390黑体炉MIKRON进口黑体辐射源
MIKRON进口黑体辐射源 M390高温红外测温仪温度计量，精度和均匀性好，在重复测试下，保障测量精准性。 参考价面议 -
Impac ISR 6测温仪
Impac ISR 6测温仪/碳纤维碳化炉红外测温仪，高精度，宽范围红外测温仪。用于 600°C 至 3000°C 非接触温度测量且具有单色和双色模式的数字比率高温计 参考价面议 -
Impac IGA 6-TV测温仪
Impac IGA 6-TV测温仪/半导体氧化扩散测温IGA 6-TV- 为近红外测温波段，对于石英视窗有更高的透射率；对于金属被测物有更高的测温精度 参考价面议