涂层测厚仪的原理和影响因素
时间：2017-05-31 阅读：2034
涂层测厚仪采用电磁感应法测量涂层的厚度，具有测量误差小、可靠性高、稳定性好、操作简便等特点，是控制和保证产品质量*的检测仪器，广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。
原理：利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小，来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小，来表示其覆层厚度。覆层越厚，则磁阻越大，磁通越小。利用磁感应原理的测厚仪，原则上可以有导磁基体上的非导磁覆层厚度。
涂层测厚仪影响因素：
（1）磁性金属基体。磁性材料磁性的变化会造成影响，并且该影响会导致测量的度发生改变。因此测量，当使用厚度测量的测量方法，应注意使金属表面的粗糙度和磁场的需要和标本是类似的标准件。
（2）基体金属的厚度。需要强调的是，测量每个仪器具有一定的临界厚度，一旦超过临界值，测量结果受基体金属厚度不受影响，从而造成测量结果的偏差，因此基体的金属厚度将是非常的关键。
（3）边缘效应。标本的测量、表面粗糙度、表面形状会影响测量结果 , 特别是在靠近边缘部分的标本 , 因为测量仪器非常敏感 , 因此 , 标本的边缘部分多数为不科学的测量数据。