测试中HALT实验与HASS实验的区别
时间:2020-04-27 阅读:1909
快速温变试验箱产品规格: SES单位:带湿度: SEA单位:不带湿度
型 号 | SES-190 | SES-330 | SES-600 | SES-1000 | SES-1500 |
工作室尺寸 | 58×45×75 | 58×76×75 | 80×80×95 | 100×100×100 | 110×147×95 |
外形尺寸 | 101×190×188 | 101×230×188 | 149×300×222 | 179×318×206 | 284×298×211 |
温度速率 | 等均温.平均温5℃/min、10℃/min、15℃/min、20℃/min。 | ||||
温度范围 | -70℃~﹢180℃ | ||||
温度均匀度 | ≤2℃ | ||||
温度波动度 | ≤±0.5℃,按GB/T5170-1996表示 | ||||
温度偏差 | ±2℃ | ||||
温变范围 | -40℃/-55℃~+125℃(高温至少+85℃以上) | ||||
湿度范围 | 10%~98% | ||||
湿度偏差 | ±3%(>75%RH), ±5%(≤75%RH) | ||||
加热方式 | 镍铬合金电热丝(3重超温保护) | ||||
制冷机 | *品牌半封闭压缩机 | ||||
制冷剂 | 环保制冷剂R404a / R23(臭氧耗損指數均為0) | ||||
温度控制器 | 双通道温湿度控制器(控制软件自行开发) | ||||
运行方式 | 程式运行+定值运行 | ||||
电源 | 380V±10%/50HZ,三相四线+地线(3P+N+G) |
什么是HALT试验?
HALT(Highly Accelerated Life Test)的全称是高加速寿命试验。HALT是一种通过施加逐级递增的环境应力或工作载荷,来加速暴露产品的缺陷和薄弱点的试验方法。主要应用于产品开发阶段,它能以较短的时间促使产品的设计和工艺缺陷暴露出来,从而为我们做设计改进,提升产品可靠性提供依据。
HALT是美国Hobbs提出并持续进行完善,主要目的是通过增加被测物的极限值,进而增加其稳健性及可靠性。
HALT按台阶方式施加应力,能够尽快发现产品缺陷、工作极限及破坏极限。其加于产品的应力有振动、高低温、温度循环、电力开关循环、电压边际及频率边际测试等。利用该试验可迅速找出产品设计及制造的缺陷、改善设计缺陷、增加产品可靠性并缩短其上市周期,同时还可改进设计、积累产品可靠性基础数据,为后续的产品研发提供重要依据。
HALT 的主要测试功能如下:
利用高环境应力将产品设计缺陷激发出来,并加以改善;
了解产品的设计能力及失效模式;
作为高应力筛选及稽核规格制定的参考;
快速找出产品制造过程的瑕疵;
增加产品的可靠性,减少维修成本;
建立产品设计能力数据库,为研发提供依据并可缩短设计制造周期。
HALT应用于产品的研发阶段,能够及早发现产品可靠性的薄弱环节。其所施加的应力要远远高于产品在正常运输、贮藏、使用时的应力。
HALT包含的如下内容:
1) 逐步施加应力直到产品失效或出现故障;
2) 采取临时措施,修正产品的失效或故障;
3) 继续逐步施加应力直到产品再次失效或出现故障,并再次加以修正;
4) 重复以上应力-失效-修正的步骤;找出产品的基本操作界限和基本破坏界限。
什么是HASS试验?
HASS (High Accelerated StressScreen)的全称是高加速应力筛选试验。HASS是产品通过HALT得出工作极限或破坏极限值后在生产阶段所做的高加速应力筛选,一般要求100%的产品参加筛选。
HASS目的是为了减少产品的潜在缺陷,并尽量在产品出厂前消除这些缺陷。HASS主要是通过加速应力方式以期在短时间内找到有缺陷的产品,缩短产品改进周期。
HASS应用于产品的生产阶段,以确保所有在HALT中找到的改进措施能够得已实施。HASS还能够确保不会由于生产工艺和元器件的改动而引入新的缺陷。
HASS包含如下内容:
1) 进行预筛选,剔除可能发展为明显缺陷的隐性缺陷;
2) 进行探测筛选,找出明显缺陷;
3) 故障分析,改进措施。
HASS 和 HALT 的区别:
1、阶段不一样:HALT是开发阶段,HASS是生产早期阶段,或者是生产阶段。
2、目的不同:HALT试验是一种摸底试验,目的是发现设计的短板并改进,HASS是一种通过性试验,是量产质量控制。
3、强度不一样:HALT试验可能会造成产品的损伤,而HASS试验不应该造成产品的损伤,因为HASS试验之后,产品是需要进行售卖的。而HALT试验之后的产品是严禁再出货的。
4、试验方法不同:HALT试验是加速应力,直至产品失效;HASS试验是多次重复但是无产品磨损,逐步修正,完成试验的轮廓的过程。
5、HALT试验和HASS试验对失效率优化,处于器件生命周期的不同阶段。