三综合试验箱技术规格：

1. GB/T 2423.25-2008：《电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Z/AM：低温/低气压综合试验》；

2. GB/T 2423.26-2008：《电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Z/BM：高温/低气压综合试验》；

3. GB/T 2423.27-2005：《电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Z/AMD：低温/低气压/湿热连续综合试验》；

4. GB/T 2423.35-2005：《电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Z/AFc：散热和非散热试验样品的低温/振动（正弦）综合试验》，其更新标准为GB/T 2423.35-2019：《环境试验 第2部分：试验和导则 气候（温度、湿度）和动力学（振动、冲击）综合试验》；

5. GB/T 2423.36-2005：《电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Z/BFe：散热和非散热试验样品的高温/振动（正弦）综合试验》；

6. GB/T 2424.15-2008：《电工电子产品环境试验 第3部分：温度/低气压综合试验导则》；

7. GB/T 2424.22-1986：《电工电子产品基本环境试验规程 温度（低温、高温）和振动（正弦）综合试验导则》；

8. GB/T 5170.19-2018：《环境试验设备检验方法 第19部分：温度、振动（正弦）综合试验设备》；

9. GB/T 12085.5-2010：《光学和光学仪器 环境试验方法 第5部分：低温、低气压综合试验》。

10.GB/T 28046.3-2011 道路车辆 电气及电子设备的环境条件和试验