​三箱式温度冲击试验箱有三个试验空间，分为高温区、低温区和测试区，也称待测品不动式温度冲击试验箱，试样放在测试箱内进行高低温冲击试验，模拟产品经过温度的急剧变化造成的物理变化。用于检测根据元器件、部件及设备疲劳损伤引起的失效。产品性能符合MIL、IEC、GB、JIS、JEDEC等各种和企业检测标准，是应力筛选试验和环境适应性验证的*手段。

三箱式温度冲击试验箱标 准：

GB/T 10592 -2008 高低温试验箱技术条件；GB/T 2423.1-2008 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法试验A：低温；GB/T 2423.2-2008 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法试验B：高温；GB/T 5170.1-2008 电工电子产品环境试验设备检验方法 总则；GJB 150.3A-2009 军用装备实验室环境试验方法 第3部分：高温试验；GJB 150.4A-2009 军用装备实验室环境试验方法 第4部分：低温试验；GJB 150.5A-2009 军用装备实验室环境试验方法 第5部分：温度冲击试验GJB 360B-2009 电子及电气元件试验方法 方法107 温度冲击试验；

SETH能够提供有效容积50L至1000L的SET或SEL系列的温度冲击标准试验箱，也可以根据用户需求定制更大容积的冲击试验箱。该系列根据用户场地和不同的试验需求分为水平结构、垂直结构以及三箱式，该系列具备提供客户一箱多用功能，可以满足GJB150.5-2009中的两种试验方法。

冲击温度范围：-65℃~+200℃

温度恢复时间：≤ 5min

温度切换时间：≤10s

型号说明
SET：产品系列号      A\B\C：工作室容积（单位：L）

SEL：结构方式：L表示两箱提篮式     T：结构方式：T表示三箱式

3\4\5表示温度冲击范围；