AA-7800原子吸收分光光度计
岛津原子吸收分光光度计 AA -7800 系列功能多样,适用于各种分析应用(Any Application),即使对于初学者(Any User)也可以迅速上手,且安全使用,并可通过自动进样器实现连续分析,通过网络连接实现远程数据分析,这样使分析操作员工作方式更加灵活(Any Location)。 参考价面议XSeeker 8000X射线CT系统
岛津近期推出新一代台式X射线CT系统-XSeeker 8000。紧凑的台式机设计,对放置场地要求低。小机身办大事---可测量轻金属部件。软件功能满足一般检查分析需要。当下的工业生产对CT检测的需求越来越多。 参考价面议inspeXio SMX-225CT微焦点X射线CT装置
微焦点X射线CT装置 inspeXio SMX-225CT采用气相色谱仪进行分析的方法称为气相色谱法。气相色谱法的原理是:样品溶液进样后,首*入汽化室,然后在载气的传送作用下进入色谱柱(载气常用氮气或氦气),不同组分在色谱柱中被分离,Z后依次流出色谱柱,被检测器检测,得到其含量。 参考价面议EPMA-8050G电子探针X射线微区分析仪
岛津能够提供钢铁、有色金属、环境、食品、化工、制药、半导体、陶瓷及高分子等众多领域客户,多种样品分析所需要的种类繁多的分析仪器。EPMA-8050G电子探针X射线微区分析仪的分析对象从几厘米到几微米;X射线光电子能谱仪(XPS)分析对象从几毫米到几微米;扫描探针显微镜(SPM)观察范围从100微米到几纳米。 参考价面议inspeXio SMX-90CT Plus台式微焦点X射线CT系统
台式微焦点X射线CT系统inspeXio SMX-90CT Plus操作简单、实验速度快、结构紧凑。这款机器的特点是:不需要校准使得操作步骤极其简单;紧凑的结构加上具有超高速计算处理系统HPCinspeXio或DICOM格式转换功能的操作系统。 参考价面议TGA-50/50H 与 TGA-51/51H热重分析仪
TGA-50/50H 与 TGA-51/51H 热重分析仪岛津制作所于1958年研发出日本*差热分析仪DT-1后,持续努力地实现在这一分析仪领域的Z高目标。在这个过程中得到的解决方案是将微型DTA、多通道以及单机等多种设计理念转变为产品,为用户提供解决问题的强有力工具。目前,我们有一系列以60系列热分析仪器为代表的热分析产品,反映了市场所需求的技术。 参考价面议TMA-60/60H热机械分析仪
为了评估材料的机械特性,TMA-60/60H热机械分析仪可使用多种测量方式(膨胀、拉伸、针刺)分析多种样品。TMA-60使用全膨胀方式进行测量,而TMA-60H则使用示差膨胀方式进行测量。 参考价面议DSC-60 Plus/60 A Plus差示扫描量热仪
差示扫描量热仪“内置自动进样器”概念,使用*软件功能来节约成本,提高效率;机身小巧,可安装在有限的空间内。 参考价面议XRD-7000X射线衍射仪
X射线衍射仪可在大气中无损分析样品,进行物质的定性分析、晶格常数确定和应力测定等。并且,可通过峰面积计算进行定量分析。可通过半高宽、峰形等进行粒径/结晶度/精密X射线结构解析等各种分析。 参考价面议JSM-7610FPlus热场发射扫描电子显微镜
JSM-7610F热场发射扫描电子显微镜的光学系统经过改进,实现了分辨率(15kV 0.8nm、1kV 1.0nm)的进一步提升,以崭新的JSM-7610FPlus形象亮相。采用半浸没式物镜和High Power Optics照明系统,能提供稳定的高空间分辨率观察和分析。此外还具备利用GENTLEBEAMTM模式进行低加速电压观察、通过r-filter分选信号等满足各种需求的高扩展性。 参考价面议JSM-IT200 InTouchScope™扫描电子显微镜
JSM-IT200 InTouchScope™ 是一款更简洁、更易于使用且性价比高的扫描电子显微镜。凝聚了日本电子50年来的SEM技术精华,外形设计紧凑。新开发的标准机型,不仅保持了InTouchScope系列*的可操作性,还拥有能与Gao端机型相媲美的可扩展性,应用范围可涵盖 以生物技术和纳米技术为首的包括材料开发、测试、评估和缺陷分析及质量控制等广泛领域。 参考价面议ICPE-9800等离子体发射光谱仪
ICPE-9800等离子体发射光谱仪实现更大浓度跨度的多元素精确、 快速、同时分析,友好的ICPEsolution工作站软件让分析过程倍感轻松。这一全新系统能为环境、医药、食品安全、化学、金属材料等领域元素分析的提供业界Ling先水准的分析工具。 参考价面议