高精度能量色散型X射线荧光光谱仪——SPECTRO XEPOS
时间:2024-07-17 阅读:421
科学、工业和商业领域的用户通常采用光谱法分析材料中的不同成分。在许多情况下,主要和次要元素浓度的精确测定是至关重要的。
在传统观念当中,常常采用波长色散型X射线荧光光谱仪做这些应用,因为其可以提供所需的精密度。而能量色散型X射线荧光光谱仪常常被认为只能做定性半定量的分析,应用到快筛分析,比如RoHS检测、固废回收等领域。
但事实上,能量色散型X射线荧光光谱仪经过这么多年的发展,其精密度已经能与WD-XRF相媲美。特别是SPECTRO分析仪器公司的SPECTRO XEPOS光谱仪。
SPECTRO XEPOS配备强制风冷式的50W端窗X射线管,针对最大能量产生进行了优化。该X射线管配备了厚度、钴钯二元合金靶材为主要感兴趣元素提供了良好的激发条件。再者,搭配直接激发、偏振激发和通带滤光片光路系统,针对特定元素进一步激发,提高了灵敏度。
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图1. SPECTRO 激发光路系统
我们使用SPECTRO XEPOS对地质矿物样品(采用熔片法制样)进行7天35次分析,结果如下表显示。
重复性试验结果显示,就算是Na、Mg、Al、Si等这些“轻”元素,在能量色散型X荧光光谱仪中常常被认为测不好的元素,其精密度都是非常高的。
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表1. 7天重复性试验的分析结果
通过测试,SPECTRO XEPOS具备高精密度与准确性,其性能与WD-XRF相当,也能满足实际的高精度分析的测试需求。