一、产品介绍
波长色散X射线荧光光谱仪是一种用于分析材料中元素组成的仪器。它基于X射线的特性，通过激发样品产生荧光，并测量不同元素所发射的特定波长的荧光信号来鉴定和定量样品中的元素。
该仪器包括X射线源、样品台、能量分析器和检测器等部件。X射线源产生高能量的X射线束照射到样品上，激发样品内部原子的电子跃迁。激发后的原子会返回基态并发射荧光X射线。这些荧光X射线经过能量分析器的衍射或散射过程，根据波长进行分散。最后，检测器捕获并测量不同波长的荧光信号强度。
波长色散X射线荧光光谱仪能够提供元素的定性和定量分析结果。通过比较样品荧光信号与已知标准样品的对比，可以确定样品中存在的元素及其相对含量。这种技术在材料分析、环境监测、地质学、考古学和金属检测等领域得到广泛应用。
二、技术参数：
1.具有0.X ppt的检出限
2.动态范围可达到6个数量级范围
三、主要特点：
1.新一代采用冷蒸汽原子荧光测汞仪
2.检出限高，线性范围大
3.符合EPA标准
4.测量时间快速
5.自动化程度高
6. 采用世界上新的、*偏振X射线荧光激发技术, 区别于其他X射线荧光仪, 仪器的背景低, 信噪比佳, 检出限低.
7. 采用多靶转换技术, 对不同的分析元素采用不同的次级靶, 保证对元素周期表中Na – U的所有元素均有佳的激发效果。其中仪器所采用的晶体靶, 由于X射线衍射的原因, 其激发强度不仅不会下降, 反而会产生单色平行X光束, 大大提高激发元素的效率。
8. 由于偏振X射线本身所具有的偏振性及单色性, 因此仪器无需选择滤光片。避免了烦杂的滤光片的选择, 简化分析操作, 减少了X光的损失, 节约了分析时间。可实现真正意义上的Na-U的全分析。
9. XEPOS型仪器配有无需液态氮冷却的Si计数器, 计数率高达120,000pcs. 可有效防止计数溢出。 不会产生Si(Li)计数器所发生的在无需液氮冷却的情况下, 所产生的分辨率降低, 背景升高, 信噪比变差的情况。
10. 仪器采用的方式于世界上强的X射线发生源-同步加速器所采用的光源机制相似，X光极为纯净，减少了杂散光对分析结果的影响。
11. 仪器可选择配置 TURBOQUANT快速定性, 半定量(定量)程序。可对任何*未知的样品进行‘解刨’分析。与其他X荧光仪器相比，TURBOQUANT 更为接近(符合)实际，在此程序中采用了数十种标准样品，实测结果并予以固化。
12. 仪器在Windows操作系统上建立斯派克的分析软件，操作极为方便。采用人机功效学原理，谱图汇编，自动识别。定性、定量功能强大。仪器采用分级密码，重要的数据得到保护。
13. 仪器具有多达十几种校正模式(数学模型)(方法)，在定量分析中可充分应用，已取得佳的分析结果。方法包括: 基本参数法、康普顿散射内标法、卢卡斯法、α经验系数法、质量吸收系数法、平均原子量法等等。
