超声波相控阵探伤仪是一种高级的无损检测设备，用于检测材料内部的缺陷、裂纹或其他不可见的问题。它利用超声波技术，通过发射和接收多个超声波束，并对其进行精确控制和聚焦，以形成扫描区域内的详细图像。

　　相控阵探伤仪由多个传感器组成，每个传感器都可以独立发射和接收超声波信号。这些传感器的位置可以根据需要进行调整，从而实现对特定区域的盖。当超声波束穿过被检测材料时，它们会与材料内部的缺陷或界面交互，并返回到传感器进行接收。

　　超声波相控阵探伤仪Olympus不无自豪地为广大用户推出了新的研制的OmniScan®SX，这是一款积累了20多年探索相控阵技术的经验，体现了OmniScan精华的探伤仪。为了更加方便地使用仪器，OmniScan SX在其8.4英寸触摸屏上使用了合理简化的新型软件界面。OmniScan SX是一款单组无模块仪器，针对检测要求较低的应用，这款仪器操作十分方便，性价比高。

　　OmniScan SX触摸屏配有全屏模式选项，更为清晰，用户仅需在触摸屏上进行简单操作，便可访问许多菜单功能。直观的界面使用户可以流畅地进行菜单选择，缩放，闸门调节，光标移动以及文本和数字的输入。以上这些特性，加上其它附加的集成功能，包括浅显易懂的设置和校准向导，迅捷的S扫描和A扫描显示更新率，和快速的脉冲重复频率(PRF)，使OmniScan SX成为一款高效的检测工具。

　　OmniScan SX能与Olympus数量庞大的扫查器、探头和附件产品，及其专门的配备软件NDT SetupBuilder和OmniPC*兼容。硬件和软件产品的完整结合，使检测流程从设计、设置到采集、分析变得精简有效。

　　新款OmniScan软件增强了焊缝和腐蚀检测应用方面的功用和性能。

　　为了达到持续完善的目标，软件的界面得到简化，反应时间得到优化，从而可使用户尽可能体验到好的检测操作过程。

　　新添功能如下：

　　导出C扫描

　　带有组融合功能的新型端视图

　　交错功能

　　分析模式下的衰减增益

　　滚动布局，方便了判读过程

　　提供更多交互式菜单，提高了访问能力

　　得到了优化的主菜单和向导

　　机载复合扇扫功能

　　用于纵向焊缝检测的曲面几何形状声线跟踪

　　对于要求使用多探头配置的应用，多组布局已得到改进，改进后的布局可在软件的界面中反映扫查器的配置。不同扫查的位置由它们到焊缝中心的距离决定，所提供的布局既容易理解，又漂亮直观。

　　OmniScan产品系列

　　设计

　　NDT SetupBuilder

　　NDT SetupBuilder设计软件是Olympus自动和半自动超声检测产品系列的一个*的组成部分。NDT监控人员可以使用NDT SetupBuilder软件模拟检测方案，以确定所需使用的适当的声束数量和声束角度。模拟配置可被导入到OmniScan，从而可减少配置时间和操作错误。

　　您的需要…………Olympus解决方案

　　在过去的几年中，为满足客户的需求，Olympus投入了大量精力创建了各种完整的解决方案，并将这些方案投放到市场、付诸实践。

　　采集

　　OmniScan

　　OmniScan探伤仪具有完成手动和自动探伤应用的强大检测性能。这些探伤仪可以与各种探头、扫查器和附件配套使用，从而使Olympus成为为石油化工、航空航天及其它工业领域提供无损探伤解决方案的*。

　　数据分析和报告制作

　　OmniPC

　　OmniPC软件带有与OmniScan机载软件相同的分析和报告工具，是用于基于PC机的OmniScan数据分析的为经济有效的选购项目。

　　TomoView

　　TomoView 2.10带有高级数据处理、分析和报告工具，可以帮助用户从检测数据中获得有关被检材料的更为详细的信息。

　　TomoView的性能如下：

　　体积融合，可进行多组数据显示。

　　C扫描融合，用于表现组合数据。

　　信噪比(SNR)分析和优化工具。

　　高级离线数据生成工具。

　　设置

　　可以在NDT SetupBuilder中为检测进行设置，然后再通过SD卡或USB钥匙，将设置直接导入到OmniScan SX仪器。进行采集之前，只需在仪器中进行几项基本操作，如：设置闸门和范围。由于OmniScan SX具有以下几个特性，用户也可以在仪器中非常方便地创建设置：

　　自动探头识别

　　单步骤、预先配置应用的向导。

　　焊缝覆盖与声线跟踪模拟。

　　校准

　　为完成一项符合规范的检测，仪器中的校准向导可以保证每组中的每个聚焦法则都直接等同于一个单通道常规探伤仪。用户在完成所要求的校准过程中，会得到向导的分步指导。所校准的项目包括声速、楔块延迟、灵敏度、TCG、DAC、AWS及编码器。现在，仪器可以自动完成TOFD PCS校准与直通波矫直的操作。

　　采集

　　在进行手动、单线或光栅编码扫查时，OmniScan SX可以方便地对检测参数进行配置。采集数据可以用户选择的视图形式实时显示在屏幕上，用户还可以将数据存储于具有热插拔功能的SD卡或USB 2.0设备中。

　　智能布局

　　全屏模式，可更好地显示缺陷。

　　可以使用不同的闸门组合对同步和测量进行处理

　　数据分析和报告制作

　　数据光标、参考光标与测量光标用于缺陷的定量。

　　扩展的数据库、预先定义的三角学参数列表、缺陷相对于轴的统计数据、体积位置信息、基于规范的合格标准、腐蚀成像的统计数据等等。

　　在进行离线闸门重新定位的操作中，视图可被链接在一起，进行交互式分析和自动更新。

　　优化的预置布局可对缺陷的长度、深度和高度进行快速方便的定量。

　　无论您想在计算机中完成数据分析，还是希望您的OmniScan仪器采集完数据后继续在现场进行数据分析，OmniPC或TomoView都是理想的与OmniScan配套使用的软件工具。