安捷伦科技公司推出新一代串联四极杆 ICP-MS 系统

新系统的灵敏度提高了两倍，并新增更多单纳米颗粒测定功能，还能对低水平硫/硅实现更准确的测定

2016 年 6 月 23 日北京 — 安捷伦科技（中国）有限公司今天在北京安捷伦原子光谱研讨会上正式推出 Agilent 8900 串联四极杆 ICP-MS系统。这款电感耦合等离子体质谱系统能提供可控的反应化学过程，可为之前难以分析的元素（例如硫、硅和磷）提供极低检测限。该系统还配备有快速检测器，可为单纳米颗粒检测应用树立全新*。

Agilent 8900 ICP-Q 不仅具有媲美于安捷伦市场的四极杆 ICP-MS 系统的氦气模式性能和分析效率，还进一步增强了原有用于在反应模式中实现受控和一致的干扰去除能力的 MS/MS 模式性能，使这款系统成为世界上功能较强大、zui灵活的多元素分析仪。

2012 年，安捷伦发布了世界上具有 MS/MS 功能的串联四极杆 ICP-MS (ICP-Q)— Agilent 8800，该系统可提供其他 ICP-MS 系统无法达到的受控和全面干扰去除能力。这款突破性仪器为数百个实验室中的分析人员带来了全新的分析可能性，并且在半导体、材料和学术研究领域得到了良好应用。 安捷伦目前是市场上串联四极杆 ICP-MS 技术的*供应商。

新一代 8900 ICP-Q 提供多种配置，可覆盖从常规分析到研究和高性能材料分析等多种应用。 通过配备更为强大的单纳米颗粒测定功能，这款新系统的应用范围除半导体和学术研究外，还进一步扩展到食品、制药和生物制药、化妆品、电子元件以及涂层材料领域。

新型 8900 ICP-Q 不仅具有更强大的单纳米颗粒测定功能，的干扰去除能力，还提供能达到极低检测限的出色性能。此外，8900 ICP-MS/MS 可为硫和硅提供更低的检测限，帮助科学家更准确地分析半导体晶片、高纯材料和生命科学样品中的污染物。