光电关联显微技术（Correlative Light and Electron Microscopy; CLEM）是一种结合荧光显微镜成像与电子显微镜成像相关的分析方法。通过使用光学显微镜和电子显微镜观察同一树脂包埋超薄切片，可分析细胞内的细胞器、分子的定位和形态。该方法可确保高相关性（除电子束和荧光波长不同导致的差异外），还可提高荧光信号的 Z 轴分辨率。

在传统的CLEM法中，由于荧光淬灭的原因，难以对同一切片进行光学显微镜和电子显微镜观察。

本次研讨会将介绍一种创新技术——In-resin CLEM。在该技术的支持下，可同时使用荧光显微镜和电子显微镜对同一切片进行观察。除了介绍In-resin CLEM的原理和应用之外，还将介绍In-resin CLEM的最新应用，如使用抗体的Immuno-in-resin CLEM。

免费报名链接：v2.nex-pro.com/campaign/60340/apply

◆会议概要

主题：In-resin CLEM的研究进展：从培养细胞到中枢神经组织中的神经胶质细胞

日期：2023年11月9日（周四）

时间：7:00 a.m. PST / 10:00 a.m. EST/ 15:00 GMT /16:00 CET /23:00 CST /24:00 JST

时长：35分钟

演讲人：顺天堂大学研究生院 医学研究科 老年病病理学治疗研究中心

资深副教授 谷田以誠博士

报名费用：免费

◆CLEM用荧光恢复试剂

通过组合使用CLEM用荧光恢复试剂TUK Solution for multicolor与特定的荧光蛋白质（CLEM-Red, CLEM-Green），可恢复被氧化锇淬灭的样品荧光。荧光恢复后可同时使用光学显微镜和电子显微镜对同一切片进行观察，实现更为精确的CLEM（需使用HB Solution清洗液进行清洗）。

数据提供：顺天堂大学研究生院医学研究科 神经疾病病理结构学

内山安男老师 谷田以誠老师

◆CLEM用荧光恢复试剂、清洗试剂

◆CLEM用载体