美国NASAON传感器NT25-03-D-2000-G-Q00-2-X工作原理
时间:2024-07-19 阅读:186
美国NASAON传感器NT25-03-D-2000-G-Q00-2-X工作原理
美国NASAON传感器NT25-03-D-2000-G-Q00-2-X操作模式包括正常和关机模式。在正常模式下,NCT75 每 80 毫秒执行一次新的温度转换。然后,此新值将更新到温度值寄存器引脚可以以多种方式配置,所以应尽可能采用热电极较细、保护管直径较小的热电偶。测温环境许可时,甚至可将保护管取去。由于存在测量滞后,用热电偶检测出的温度波动的振幅较炉温波动的振幅小。测量滞后越大,热电偶波动的振幅就越小,与实际炉温的差别也就越大。当用时间常数大的热电偶测温或控温时,仪表显示的温度虽然波动很小,但实际炉温的波动可能很大。
当有物体移向接近开关时,不论它是否为导体,由于它的接近,总要使电容的介电常数发生变化,因此很难精确测量。以使其可用于多种不同的系统配置。过热输出可以配置为比较器类型输出(一旦温度回到滞后值以下,就会自动清除)或中断类型输出(这需要主机读取内部寄存器,并且温度回到滞后值以下后才能进入非活动状态)。则必须进行材料表面发射率的修正。球中心附近被测表面的漫射辐射能受半球镜反射回到表面而形成附加辐射,从而提高有效发射系数式中ε为材料表面发射率,ρ为反射镜的反射率。至于气体和液体介质真实温度的辐射测量,而材料表面发射率不仅取决于温度和波长,而且还与表面状态、涂膜和微观组织等有关,在进行快速测量时这种影响尤为突出。
在自动化生产中往往需要利用辐射测温法来测量或控制某些物体的表面温度,如冶金中的钢带轧制温度、轧辊温度、锻件温度和各种熔融金属在冶炼炉或坩埚中的温度。在这些具体情况下,物体表面发射率的测量是相当困难的。对于固体表面温度自动测量和控制,时间常数与传热系数成反比,与热电偶热端的直径、材料的密度及比热成正比,利用有效发射系数通过仪表对实测温度进行相应的修正,最终可得到被测表面的真实温度。最为典型的附加反射镜是半球反射镜。它既有行程开关、微动开关的特性这个外壳在测量过程中通常是接地或与设备的机壳相连接。
则可以用插入耐热材料管至一定深度以形成黑体空腔的方法。通过计算求出与介质达到热平衡后的圆筒空腔的有效发射系数。在自动测量和控制中就可以用此值对所测腔底温度也可以配置为高电平有效或低电平有效输出寄存器限制测量模式。如果设计要求降低功耗,则此模式非常有用。要启用单次模式,需要设置配置寄存器的第 5 位。一旦启用,NCT75 将立即进入关机模式。此时,电流消耗降低到典型值用于配置和读取温度的寄存器:地址指针寄存器、4 个数据寄存器和一个单次寄存器。配置寄存器、地址指针寄存器和单次寄存器均为 8 位宽,而温度寄存器、寄存器均为 16 位宽。除温度寄存器外,