e+h导波雷达物位测量仪的优势有哪些

• 可靠测量：不受介质表面和罐体内部装置或挡板的影响

• 底部回波算法(EoP)使得测量更加安全

• 在加料过程中也能安全测量

• Levelflex使用高频雷达脉冲工作，脉冲沿探头发射和传播。脉冲触及介质表面，介电常数值(相对介电常数)的变化导致部分发射脉冲被反射。仪表测量和分析脉冲发送和接收间的行程时间，直接测量过程连接和介质表面间的距离。

• 在E+H导波雷达物位测量中，Levelflex自顶向下安装，满足所有行业应用要求。导波雷达调试简单、*操作方式，节省时间和成本。应用广泛：可以在简单储罐中，在腐蚀性介质中或严重粉尘应用中测量。点击以下按钮查看更多Levelflex导波雷达物位仪。

  导波雷达物位仪特别适用于液体和固体的物位测量。反射波安全传输使得介质表面条件影响甚微。扰动液体表面或泡沫形成，以及不同弯曲表面或熔炉出口不会影响测量。导波雷达是界面测量的优选。

• e+h导波雷达物位计测量的参数有哪些

• 菜单是引导现场操作，四行文本显示

• 现场显示包络线进行诊断

• 附送ToF Tool操作软件，可进行操作与诊断

• 可进行远程操作和显示

• 采用同轴探头进行测量，可以*不受罐内介质和安装
  短管上的安装位置等因素的影响

  Levelflex M 被设计用于对粉末或小颗粒固体及液体进行连续
  物位测量。测量不受介质密度、温度变化及气室内粉尘堆积等
  因素影响。过程连接可以选用?"以上螺纹和DN40/1?"以上法
  兰。

• e+h缆式探头主要用于测量固体料位，测量范围可达
  35m/114.83ft

• 杆式探头主要用于测量液体料位

• 可选以下标准的系统接口：

• HART（标准），4...20mA

• PROFIBUS-PA

• 基金会现场总线

•  

• 同轴探头用于测量液体料位

e+h导波雷达物位测量仪的优势有哪些

 变化中的介质进行可靠测量

• 实用性强
• 内置数据存储器
• 工厂预标定
• 直观的菜单引导式操作，多种语言可选
• 便于集成到控制或资产管理系统中
• 的测量和过程诊断，便于快速决策
• 认证: ATEX, IEC Ex, FM, CSA 领域
  • FMP50 - 经济型测量仪表，用于供应和存储过程以及公用工程.
  • 测量范围zui大12 m (39 ft)
  • 过程连接采用 3/4"螺纹或适配法兰
  • 温度范围: -20～+80 °C (-4 ～ +176 °F)
  • 压力范围: -1 ～6 bar (-14.5～87 psi)
  • 具有下列系统集成通信接口:
    　　　- 4 - 20 mA HART模拟接口
    　　　- PROFIBUS PA接口
  
  
  • 用于物位监测时，符合SIL2要求，由TüV进行独立评估，符合IEC 61508标准