雷泰（Raytek）公司成立于 1963 年，设计、制造、销售和维护完备的非接触式红外温度测量仪器，产品被广泛用于工业、过程控制和维护应用。

使用红外测温仪的优势

红外技术已经被成功应用至工业和研究设置领域，随着成本降低和可靠性提高的不断创新和发展，红外技术已经实现了可提供更小测量单位的传感器。所有这些因素都促使红外技术受到新应用和用户的广泛关注。

非接触式温度测量具有哪些优势？

节省时间 -- 典型的红外温度测量耗时小于500 mS。
测量移动目标。
测量危险或无法接触的物体（高压部件、较大的测量距离）。
测量高温（高于1300°C）
无能量干扰或能量损耗。
没有对目标造成污染和机械影响的风险。

RAYTEK    测温    A9HM3IBUO2U        
RAYTEK    红外测温传感器（镜头式）    RAYTXCLTSF S/N.203387        
RAYTEK    固定式红外测温仪    TXCLTSF-18～500℃        
RAYTEK    测温仪    ST80  红外测温仪        
RAYTEK    红外线测温仪    ST-20(0-300℃)        
RAYTEK    备件    ST18        
RAYTEK    吹扫器    XXXMIACAJ        
RAYTEK    便携式测温仪    3I2ML3 200～1800℃        
RAYTEK    红外线测温仪    ST20XB        
RAYTEK    红外测温探头    MID10LT,4-20mA        
RAYTEK    红外测温仪    MODEL:RAYR3I2ML3U LOT#:2047670201 SERIAL#:23659        
RAYTEK    测器保护窗    XXXMIACPW        
RAYTEK    备件    F4JM13100AC MAT.NO:7179279        
RAYTEK    涂胶阀    97134        
RAYTEK    备件    MARATHON MM 2ML        
RAYTEK    甩胶器    97134-115H        
RAYTEK    测温仪    MR1SBSF 双色红外测温仪        
RAYTEK    高精度红外线测温仪    MM1MHSF2L        
RAYTEK    测温仪    RAYFR1ASF001        
RAYTEK    控制箱    RAYMI3COMM4        
RAYTEK    探头    RAYTXCLTSFW 红外线测温探头        
RAYTEK    点温仪    ST20        
RAYTEK    红外测温仪    RAYFR1-A-SF003(500℃-1100℃)        
RAYTEK    毛细管针头    97289        
RAYTEK    高温计附件    F4JM13100ACMAT.NO:7179279        
RAYTEK    保护套    TXXTJ4M        
RAYTEK    高温计    RAYM131002MSF3CB15 MAT.NO:7178686 BE        
RAYTEK    红外测温仪热保护套    RAYTXXTJ3 备注：与RAYTXCLTSF型测温仪 含空气吹扫器：TXXACAP 配合使用        
RAYTEK    辐射高温计    RAYTX-C-LT-SF-W/CERT        
RAYTEK    备件    DB4058/MR25K/        
RAYTEK    测温仪    RAYR312ML3U 200-1800℃        
RAYTEK    红外线测温仪    红外线测温仪ST60红外线测温仪RAYST60XBAP        
RAYTEK    红外测温仪    FLT(250-1100度）        
RAYTEK    红外辐射测温仪    红外辐射测温仪MT4        
RAYTEK    红外测温仪热保护套可调安装基座    XXXTXXACMB        

正确的红外温度测量的主要因素

为了确保正确的非接触式红外温度测量，请注意以下几点：

至目标（光点）的距离比
视场
环境条件
环境温度
发射率
至目标（光点）距离比
红外传感器的光学系统收集圆形测量点的能量并将其汇聚于探测器。光学分辨率由设备至物体的距离与被测光点的大小的比值(D:S比)决定。比值越大，设备的分辨率越好，可以从更远的距离测量更小的光点。红外光学的创新是增加了近焦特性，提供小目标区域的准确测量，不含不希望的背景温度。

视场
确保目标大于设备正在测量的光点尺寸。目标越小，您应该离得越近。当准确性尤为重要时，确保目标至少是光点尺寸的两倍。

环境条件
留意工作区域的环境条件。蒸汽、灰尘、烟雾等会阻挡设备的镜头，从而妨碍测量。安装开始之前，还应该考虑噪声、电磁场或震动等其它条件。保护外壳、空气净化，以及空气或水冷可保护传感器，确保准确测量。因此，某些Raytek产品，如Thermalert和Marathon系列传感器，含空气净化功能。

环境温度(周围温度)
如果测温仪被暴露于温差大于20℃的突发环境下，请保持至少20分钟让其适应新的环境温度。Raytek固定式传感器针对特殊环境温度范围进行了性能优化设计。例如，Raytek MIH 可承受高达180°C (356°F)的环境温度（无水冷或空气制冷）。对于高环境温度，Raytek提供空气制冷和水冷选件以及附件，例如耐高温保护套。

发射率
发射率是物体辐射红外能量的能力的测量量。辐射的能量指示物体的温度。发射率的取值范围为0（光洁的镜面）至1.0（黑体）。了解发射率和各种材料的发射率值。

雷泰MP150 线扫描测温仪提供、宽范围、实时、边缘到边缘的温度测量，实时过程的彩色热图像，特别适用于连续和离散工业过程的温度监视、图像扫描、分析及控制。每秒150线的超高扫描速率，内置线扫描激光瞄准器，提供TCP/IP 和以太网接口的高性能MP150线扫描测温仪，其价格大大低于目前市场上同类扫描测温仪产品的价格，并且具有更强大的功能，是工业用户的*选择。雷泰 MP150自带空气吹扫/水冷却系统，可设置三个模拟输出和双路数字通讯。

专为玻璃生产和二次玻璃加工所设计的红外测温系统

GS150 和 GS150LE 玻璃行业的温度成像及分析系统，为用户提供快速、的、非接触温度测量。实时的温度监测使得玻璃和二次加工玻璃的制造获得以下益处：提高产量和成品率、改善过程控制、提高产品一致性、提高产品质量、减少停机时间。特别适用于玻璃弯曲、玻璃成型、玻璃退火、镀膜玻璃、钢化玻璃等玻璃的生产过程。    
        
专门用于塑料薄膜挤压处理的红外热成像系统

EC150: 用于挤出薄膜、挤出涂布和覆合加工过程的温度监测及热成像系统
ES150: 用于薄膜挤压处理过程的温度监测及热成像系统
TF100: 用于塑料成型过程的温度监测及热成像系统
    
专门用于水泥回转窑窑体温度监测的红外扫描成像系统

CS210系统可提供实时的回转窑窑体温度分析和热像图、曲线图，所有的数据和曲线都存储在一个可调用的数据库中，通过数据比对，可提前防止生产事故的发生.

专门用于石膏板生产工艺中温度监测的红外扫描成像系统

TRS100: 监测浆体的温度 
TIP450E: 专门用于石膏板生产的温度监测热成像系统，提供实时的石膏板表面成像，实时图表和历史趋势图表，帮助用户准确地了解石膏板的干燥超时情况。