半导体导电型号鉴别仪 硅单晶材料PN测量仪

型号：SN/STZ-8

主要技术指标：

1． 测量范围：硅单晶材料电阻率10-4~103Ω•cm

温差法：10-4~10Ω•cm

整流法：10~103Ω•cm，并对<0.1Ω•cm的材料具有声光报警功能。

2． 可测量材料：半导体硅棒和硅片，及硅碎颗粒。

可测半导体材料尺寸：Φ15~Φ150 mm以上。

3． 显示方式：P、N 灯显示。

4． 测试探头：手持式 探针间距3 mm 探针Φ1mm 高速钢

5． 电源：220V 50HZ 20W

6． 仪器尺寸：100×260×260