日本日置LCR测试仪 IM3523概述

应用于生产线和自动化测试领域的理想选择

LCR测试仪IM3523测量方法：连续测量不同条件

在电容的测量条件中希望以120Hz测量C-D。希望以100kHz测量ESR。这时，使用1台告诉连续测量不同条件。

LCR测试仪IM3523测量方法：顺畅的进行生产线的设置更改的面板读取功能

为了使用1台LCR测试仪测量多种产品，要求高效率的更改设置。

IM3523的面板保存功能更，最多保存60组测量条件，还能保存128个开路/短路补偿和线长补偿等的补偿值。使用面板功能读取所保存的测量条件。除了手动读取以外，可以使用外部控制端口控制面板编号的读取，因此能缩短构筑自动化检查产线的时间。

可靠的产线检查：接触检查功能

检查4端子测量时样品间的接触不良。

测量LPOT〜LCUR间和HPOT〜HCUR间的接触电阻，如果在所设置的阈值以上时则显示错误。

精度计算软件

仅需输入数值即可轻松计算精度。

日本日置LCR测试仪 IM3523特点

★ 基本精度±0.05％，测量范围广(DC,40Hz～200kHz，5mV～5V，10μA～50mA)
★ 在比如C-D和ESR这样的混合测量条件下，可以以往产品10倍的速度不间断测试。
★ 内置比较器和BIN功能
★ 2ms的快速测试时间