岛津光谱仪的测量准确度很高，但测量的结果和实际上总有一些误差，那么岛津光谱仪的误差究竟是什么原因造成的？下面一起来了解一下吧！
 

 

　　一、系统误差的来源：
       (1)标样和试样中的含量和化学组成不*相同时，可能引起基体线和分析线的强度改变，从而引入误差。

 

　　(2)标样和试样的物理性能不*相同时，激发的特征谱线会有差别从而产生系统误差。
 

　　(3)浇注状态的钢样与经过退火、淬火、回火、热轧、锻压状态的钢样金属组织结构不相同时，测出的数据会有所差别。
 

　　(4)未知元素谱线的重叠干扰。如熔炼过程中加入脱氧剂、除硫磷剂时，混入未知合金元素而引入系统误差。
 

　　(5)要消除系统误差，必须严格按照标准样品制备规定要求。为了检查系统误差，就需要采用化学分析方法分析多次校对结果。
 

　　我们常见的光谱仪包括哪几个主要部分：
 

　　一、入射狭缝: 在入射光的照射下形成光谱仪成像系统的物点。
 

　　二、准直元件: 使狭缝发出的光线变为平行光。该准直元件可以是一独立的透镜、反射镜、或直接集成在色散元件上，如凹面光栅光谱仪中的凹面光栅。
 

　　三、色散元件: 通常采用光栅，使光信号在空间上按波长分散成为多条光束。
 

　　四、聚焦元件: 聚焦色散后的光束，使其在焦平面上形成一系列入射狭缝的像，其中每一像点对应于一特定波长。
 

　　五、探测器阵列：放置于焦平面，用于测量各波长像点的光强度。该探测器阵列可以是CCD阵列或其它种类的光探测器阵列。