MC-2000A型涂(镀)层测厚仪使用方法
时间:2016-07-28 阅读:1367
MC-2000A型涂(镀)层测厚仪使用方法
1.开机:先取开探头线插在仪器上,(插拔探头时,请抓住探头线上的接插件部位插拔,不要直接抓住探头线,以免损坏探头。)然后按动“ON/OFF”键(探头与铁基或磁场的距离保持10cm以上)开机听到蜂鸣声后仪器进入测量状态,可以直接进行测量。如果测量数据偏差较大,可以进行校准后再测量。
测量时要注意测量指示,箭头消失后才能再次测量,如右图
2.校准:本仪器分为系统校准、两点校准和铁基校准三种。在一般情况下只需进行铁基校准即可进行准确测量。当仪器铁基与被测件铁基的磁性和表面粗糙度差别较大时,可以进行系统校准以保证测量度。
(1) 铁基校准(零点校准)
仪器标准基体金属的磁性和表面粗糙度应当与待测试件基体金属的磁性和表面粗糙度相似。为了保证测量的性,可以在测量测试件之前*行铁基校准。
校准方法:在仪器开机状态下,将探头垂直的放在被测试件的裸露基体上进行测量,测量两次,测完第二次按住探头不动按下"CAL"键,伴随着两声蜂鸣即可完成铁基的校准。如果没发出两声蜂鸣说明操作有误,重新按以上步骤操作直至发出两声蜂鸣即可。
(2) 两点校准
在测量过程当中,如果发现个别测量值偏差较大可以通过两点校准方法进行调整。
校准方法:把一个已知厚度的被测试件作为标准样片进行测量,如果显示值与真实值不一致,可以通过"▲"、"▼"键进行加1或减1操作。按住"▲"、"▼"键不放可以进行连续加、减,直到显示值和真实值相同为止。校准完成后即可进行正常
注意:两点校准时选用的被测试件厚度不要与系统校准时的五个样片值接近,否则操作无效。
(3) 系统校准
仪器在出厂前已经经过技术人员系统校准,为保证度也可在工作现场进行二次系统校准。
系统校准过程:
在关机状态下同时按住"ON/OFF"键和"MENU"键,先放开"ON/OFF"键然后放开"MENU"键即可进入系统校准模式。
本系统校准共需要校准五个标准样片,进入系统后首先显示"铁基"界面,此时要把探头垂直的放到被测件的裸露基体上进行测量。测量两次后如果测量没有错误操作,伴随着两声蜂鸣便进入*个样片的测量。屏幕显示出厂时提供的*个样片值。如果显示的样片值和真实值不符,可以通过"▲▼"键来进行加1或减1操作。按住"▲″或"▼"键不动可以连续加或减,直到调整到显示值和真实值相同为止。调整完样片值之后即可对*个样片进行测量,测量两次无误后,伴随着两声蜂鸣,仪器进入下一个样片的校准。若测量两次后仍无两声蜂鸣,说明操作有误,重新测量一次即可。接下来四个样片的调整方法同上。
当第五个样片校准完成后屏幕显示"0000'',进入开机界面如图A,仪器此时即完成了系统校准过程。以后就可以对被测件直接进行测量。
注意:这五个样片可以使用仪器提供的标准片也可以使用
已知厚度的样片作为标准片。样片校准时要按照由小到大的顺序进行,相邻样片间应该有一定的差值。系统校准时所选用的铁基必须是平整的而且其表面要大于30mm×30mm。
如果由于现场强磁场干扰或者操作不当造成系统紊乱时,可以通过系统初始化设置进行系统恢复。
系统初始化设置:
在关机状态下,同时按住“▲▼”键不动,然后按一下"ON/OFF"键,直到屏幕显示“OK”。松开“▲▼”键,初始化设置即可完成。此时仪器显示“铁基”,仪器进入系统校准状态,按照系统校准的方法,校准完成后即可正常测量。
3.在测量状态下存储
在测量状态下屏幕显示为测量值,如需存储按动仪器上面的“ENTER”键,存储地址自动加1。例如当前地址为0004,测量厚度值为1054um,存储后地址变为0005,显示界面如图示。
屏显结果只能被存储一次,如需另外存储可重新测量。如果要从初始地址重新开始存储可以在存储读出菜单下长按"ENTER"键,储存序列号就会回归至初始地址0001,即可开始重新储存。