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WERTH X射线工业CT断层扫描测量仪
德国Werth公司是*家将X射线扫描成像技术整合到三坐标测量系统，实现产品无损可视化准确测量，并可选配光学、光纤、探针、激光扫描等多种传感器。对工件内外部所有结构尺寸全面的高精密测量，同时可实现工件材质的缺陷分析。可对塑料、陶瓷、复合材料、金属等多种材质制成的产品进行无损尺寸测量和装配评估等。压缩测量周期的同时，保证了高品质的要求。Werth工业CT断层扫描测量仪此机荣获2005年度欧洲模具设计金奖。
WERTH X射线工业CT断层扫描测量仪主要特点：
◆ 将X射线断层扫描成像技术整合到三坐标测量系统，实现复杂部件高精度内外尺寸全面测量
◆ 可选配第二个Z轴，配置其他传感器（光学、探 针、光纤、激光等）
◆ Werth公司技术复合式传感器技术，进一步保证 CT测量数据更准确
◆ 坚固的花岗岩基座，保证机器具有高稳定性
◆ 高精密机械轴承技术及线性导轨系统，确保实现zui 高精度的测量
◆ 无论从设计还是结构，测量机*并超出X射线使用安全标准
◆ 基于Werth公司优异的图形处理及3D重构技术，测量速度更快
◆ Werth公司技术的X射线传感器独立校准系统
◆ Werth公司技术的栅格断层扫描技术：
精密测量微小部件
扫描更大尺寸工件，提高分辨率
扩展测量范围
◆ 测量软件可快速3D重构，也可进行2D测量
◆ 测量工件内部尺寸的同时，也可实现材质缺陷分析
◆ 选用广泛应用的WinWerth软件 (德国国家计量院PTB长度标准认证) ，界面友好，操作简单
◆ 可使用zui拟合Bestfit及公差拟合Tolerancefit软件进行轮廓匹配分析及三维CAD工件公差比对
◆ 广泛应用于复杂尺寸测量，*评估，逆向工程，质量控制等
Werth工业CT断层扫描测量仪应用领域: 模具行业、逆向工程、汽车行业、航空航天、精密机械加工、船舶等
技术参数：
| 型 号 | TomoScope | TomoCheck | TomoScope HV Compact | TomoScope HV |
| zui大测量工件尺寸(直径) | 90mm | 90mm | 350mm | 350mm |
| zui大测量高度 | 200mm | 200mm | 350mm | 500mm |
| zui大允许误差 (用CT传感器) | (4,5+L/75) µm | (1,5+L/500) µm | (4,5+L/75) µm | (4,5+L/75) µm |
| zui大允许误差(E1:单轴精度) | (2,5+L/120) µm | (0,5+L/900)µm | (2,5+L/120) µm | (2,5+L/120) µm |
| (E2:平面精度) | (2,9+L/100) µm | (0,7+L/600) µm | (2,9+L/100) µm | (2,9+L/100) µm |
| (E3:空间精度) | (4,5+L/75) µm | (1,5+L/500) µm | (4,5+L/75) µm | (4,5+L/75) µm |
| X射线源 | 130kV(150,190kV可选) | 130kV | 225kV | 225kV(450kV可选) |
| X射线探测器像素 | 1024x1024 | 1024x1024 | 1024x1024 | 2048x2048 |
| X射线探测器尺寸 | 50x50mm | 50x50mm | 200x200mm | 400x400mm |
| 分辨率 | 0.1µm | 0.1/0.01µm | 0.1µm | 0.1µm |
| 定位速度 | 150mm/s | 60mm/s | 150mm/s | 150mm/s |
| 加速度 | 300mm/s2 | 250 mm/s2 | 350 mm/s2 | 350 mm/s2 |
| 工作台承重 | 2kg | 10kg | 40kg | 40kg |
| 电源 | 230V +/-10% | 3x400V/N/PE | 3x400V/N/PE | 3x400V/N/PE |
| 气压 | 7-10bar | 7-10bar | 7-10bar | 7-10bar |
| 仪器自重 | 3000kg | 6000kg | 8500kg | 11000kg |
1). 依据标准ISO 10360和VDI/VDE 2617，使用TP200, WFP测量或CT传感器选择同等及更高精度探针修正或光学传感器选用同等及更高精度探针修正
2). Temp: 20℃±2k, △=1K/h m≤2kg
