波前分析仪特点及应用范围说明
时间:2022-11-14 阅读:920
随着光波波前探测技术的发展,各种波前传感器应运而生,从测量原理上可以分成两类:一类是根据几何光学原理,测定波前几何象差或面形误差;另一类是基于干涉测量原理,探测波前不同部分的干涉性,来获取波前信息,主要有剪切干涉仪波前传感器和相位获取传感器等。波前传感器用于波前信息探测,光束质量评价,光学元件检测和激光大气通信及人眼像差测量等各个领域,也广泛地应用于自适应光学系统之中。
产品特点:
1、可直接测量:消色差设计,测量前无需再次对波长校准,消色差:干涉和衍射对波长相消;
2、高动态范围:高达500μm;
3、波长范围:400、1100nm;
4、高分辨率:最多采样点可达120000个(160x120),测量稳定性高;
5、内部光栅横向剪切干涉,防震设计,无需隔震平台也可测试,对实验条件要求简单。
波前分析仪应用范围:
1、激光、天文、显微、眼科等复杂自适应光学系统波前像差检测;
2、激光光束性能、波前像差、M2、强度等的检测;
3、红外、近红外探测;
4、平行光管/望远镜系统的检测与装调;
5、卫星遥感成像、生物成像、热成像领域;
6、球面、非球面光学元器件检测(平面,球面,透镜);
7、虹膜定位像差引导;
8、大口径高精度光学元器件检测;
9、激光通信领域;
10、航空航天领域。