单层磺化酞菁铜(CuTsPc)的波长特征
时间：2022-02-15 阅读：349
单层磺化酞菁铜(CuTsPc)的波长特征
层层自组装的制备了聚苯胺/磺化酞普铜(PAN/ CuTsPc)分子复合薄膜,并通过紫外可见近红外吸收光谱、傅立叶红外光谱.X射线衍射仪与原子力显微镜对薄膜进行了表征与分析。紫外-可见近红外吸收光谱表明, PANI和CuTsPe具有的层层自组装性质,沉积过程具有均匀性与重复性;傅立叶红外光谱表明,复合薄膜是由PANI和CuTsPc组成的，PANI和CuTsPe通过静电力的作用组装成膜;X射线衍射结果表明,复合薄膜是非晶态的;原子力显微镜观察到薄膜表面是比较均匀和致密的,但有的粗糙度。
为制备的不同层数PANI/CuTsPc复合薄膜的UV- .VISNIR光谱。不同层数复合薄膜的各个峰位基本保持不变，并未随组装层数的增加而发生改变，表明PANI与CuTsPc这两种物质具有的层层自组装成膜性质,其成膜工艺稳定，特征波长在308nm628nm处薄膜的吸光度与自组装层数的关系。随着自组装层.膜的吸光度与自组装层数的关系。随着自组装层.表明该自组装薄膜体系的层层自组装沉积过程具有的一致性均匀性与重复性。
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