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面议硅单晶非平衡少数载流子寿命测量仪 单晶少子寿命测试仪
型号AODJ-LT-3
特点:
该仪器参考美国A.S.T.M标准而设计的用于测量硅单晶的非平衡少数载流子寿命；
测试单晶电阻率范围：>0.3Ω.cm；
可测单晶少子寿命范围：1μS-10000μS；
配备光源类型：红外光源，波长：1.09μm；
余辉<1μS；闪光频率为：20-30次／秒；
前置放大器：放大倍数约25；
测量方式：采用对标准曲线读数方式；
