仪景通光学科技(上海)有限公司

化工仪器网顶级9

收藏

OmniScan X3 MXU / 5.2.0 新版本现已上线

时间:2020-06-11      阅读:402

▲OmniScan X3

 

信心满满,昭然可见 这是奥林巴斯OmniScan X3探伤仪向用户传递的产品理念。这句话有何深意?它们恰当地描述了OmniScan仪器的强大性能:用户可以根据仪器屏幕上显示的信息,充满信心地做出正确的判读。

 

日前,奥林巴斯发布可用于OmniScan X3 探伤仪的软件升级版本:

OmniScan X3 MXU 5.2.0,中国用户可以前往我们的网站进行下载更新。

 

 5.2.0 中的新功能 

 

 1. 可离线编辑扫查偏置

可从扫查计划、采集以及在分析过程中离线编辑扫查偏置

 

 

 2. 可离线编辑的探头方向和步进偏置

 

 

 3. 可离线编辑的TOFD的调色板(亮度和对比度)

 

 

 4. 在现场或分析过程中可离线编辑闸门

 

 

 5. 可离线编辑分析增益

 

 

 6. TFM TTT-TT设置 帮助检测管外径缺陷

 

上一篇: 从未感受过的五大体验 下一篇: 应用分享 | 激光扫描显微镜用于测量锂电池集流体的表面粗糙度
提示

请选择您要拨打的电话: