仪景通光学科技(上海)有限公司

化工仪器网顶级9

收藏

超声波探伤仪Omniscan X3软件更新:相位相干成像技术(PCI)

时间:2022-09-27      阅读:507

超声波探伤仪OmniScan X3因为方便易用的特性及其广泛的应用领域,深受广大用户的喜爱。本次,超声波探伤仪OmniScan X3的配套应用软件MXU再次迎来强势升级,MXU5.10版本现已和大家见面。

本次MXU 5.10升级亮点:

全聚焦PCI成像

超声波探伤仪OmniScan X3 64的成像*技

  • 支持OmniPC™ 5.10 离线分析

  • OmniScan™ X3 64采集

  • 实时扫查

  • 支持时间和编码扫查

  • 增强可视感和定量能力

  • 利用裂纹端点信号快速定量

  • 支持快速设置

  • PCI与TFM一键切换

TFM模式,

支持DLA/DMA探头及TCG功能

  • 所有TFM模式均支持DLA/DMA探头

  • 优化的AIM工具,随激发孔径变化

  • TFM组支持实用TCG校准

  • 与PA校准TCG的流程类似

PA检测

支持显示纵缝焊缝视图

  • 焊缝覆盖适用于声程方向显示

  • PA检测支持显示纵缝焊缝视图

  • 支持显示不同的坡口型式

在以上升级的基础上,还将为扫查计划增加新的探头,REX系列DLA双晶腐蚀探头将支持TFM和PCI双模式。

 

上一篇: IPLEX视频内窥镜目视套装助力食品制药行业 下一篇: 选购体视显微镜你需要明白哪些要点
提示

请选择您要拨打的电话: