HM1000热电离质谱仪(邻苯二甲酸酯检查用)
随着RoHS指令的改订,2019年7月开始,在涂覆电线,绝缘胶带及包装薄膜等产品中被广泛使用的4种邻苯二甲酸酯类物质将被列入为限制对象。TMA7300日立热机械分析仪
日立热机械分析仪TMA7000Series与传统的TMA相比,灵敏度提高了2倍。因为是没有形状制约的全膨胀方式,无论是薄膜或碎片样品都可以用日立热分析仪器来可以测定。另外,只须更换探针就可以完成压缩、针入、拉伸测量模式。自动冷却器等的选配件种类充实,将使用便利性和高精度测定成结合在一起。 参考价面议STA7200日立热重-差热同步分析仪
日立热重-差热同步分析仪STA7000系列拥有高灵敏度的水平差动式天平设计及*的数字化控制技术,使得TG基线的稳定性得到提高。能够准确地检测出μg级变化的TG/DTA。 参考价面议DSC7020Series日立高灵敏度差示扫描量热仪
DSC7020Series日立高灵敏度差示扫描量热仪*的灵敏度和重现性提升了数据的可靠性,同时丰富多彩的扩展性使其更为出色。以一般聚合物的DSC测量为基础,可应对多种不同应用,例如可以对难以经手的样品进行微量测量,省力自动化,样品观察,光化学反应等。从材料开发到成品评价,DSC能够对应所有场合。 参考价面议DSC7000Series日立差示扫描热量计
DSC7000Series日立差示扫描热量计*的灵敏度和重现性提升了数据的可靠性,同时丰富多彩的扩展性使其更为出色。以一般聚合物的DSC测量为基础,可应对多种不同应用,例如可以对难以经手的样品进行微量测量,省力自动化,样品观察,光化学反应等。从材料开发到成品评价,DSC能够对应所有场合。 参考价面议日立FT9455系列X射线荧光镀层厚度测量仪
日立FT9455系列X射线荧光镀层厚度测量仪在高功率X射线管和检测器上配备有比例计数管和半导体检测器。可对应薄膜/合金膜以及极微小部件的测量需求,X射线荧光镀层厚度测量仪同时也可以支持针对其他异物进行定性分析和材料的成分分析。 参考价面议日立荧光分光光度计
日立荧光分光光度计 参考价面议日立FT9400系列X射线荧光镀层厚度测量仪
日立FT9400系列X射线荧光镀层厚度测量仪在高功率X射线管和检测器上配备有比例计数管和半导体检测器。可对应薄膜/合金膜以及极微小部件的测量需求,X射线荧光镀层厚度测量仪同时也可以支持针对其他异物进行定性分析和材料的成分分析。 参考价面议FT150h日立X射线荧光镀层膜厚测量仪
日立X射线荧光镀层膜厚测量仪使用新开发的X射线聚光用多毛细管的产品阵容诞生了,以X射线检测结构为中心,对各类元件进行Z佳优化,从而大幅提高了检测灵敏度,镀层膜厚测量仪在不损失检测精度的前提下实现了的高处理能力。并且,对设备进行了重新设计,使得样本室的使用,以及对检测点的检查变得更为容易。 参考价面议FT150日立X射线荧光镀层膜厚测量仪
日立X射线荧光镀层膜厚测量仪使用新开发的X射线聚光用多毛细管的产品阵容诞生了,以X射线检测结构为中心,对各类元件进行Z佳优化,从而大幅提高了检测灵敏度,镀层膜厚测量仪在不损失检测精度的前提下实现了的高处理能力。并且,对设备进行了重新设计,使得样本室的使用,以及对检测点的检查变得更为容易。 参考价面议TMA7100同步式hitachi热分析仪器
该TMA7100同步式hitachi热分析仪器设备可在同一设备上进行矿物棉及其制品的热荷重收缩温度测试、烧结点测试、析晶分析三个试验,一机多用。与hitachi热分析仪器连计算机自动测试及数据处理,自动生成测试报告并打印输出。 参考价面议STA7200智能进口热分析仪
环保碳硅智能日立hitachi热分析仪器拥有高灵敏度的水平差动式天平设计及*的数字化控制技术,使得TG基线的稳定性得到提高。热分析仪器能够准确地检测出μg级变化的TG/DTA,日立热分析仪器是一种利用程序控制温度的状态下,测量物质的物理性质和温度的关系一类的仪器,测量结果数显直读,测量时间为2-3分钟,便于铸造工程师现场配料。 参考价面议