QNix 1500膜厚参数

技术参数：
量 程：0－5000μm
精 度：0－50μm：≤±1μm，50－1000μm：≤±1.5%，1000－2000μm：≤±2%， 2000－5000μm≤±3%。
精度： 0－999μm：0.1μm，1000μm以上，0.01mm。
zui小测量面积直径：凸半径：5mm，凹半径：25mm。
zui小基体厚度：Fe：0.2mm，NFe：0.05mm。
重 量：130g。
外形尺寸：166×64×34mm。
电 源：两节5号电池。
主机一台；铁、铝基体各一块；手提仪器盒；操作手册；出厂合格证。

QNix 1500膜厚仪技术参数

技术数据 
                    1200                                 1500          
基材：铁探头钢或铁* *
NFe探头非磁性金属 - 铝，铜，黄铜，锌，不锈钢*
测量范围：0.00-80.0密耳或0.0至2000μm                    0.00-200密耳或0.0至5000μm
重复精度：±2％-5％                                      ±2％-5％
基本公差：±0.06密耳                                     ±0.06密耳
zui小弯曲度：0.2英寸凸面                                   0.2英寸凸面
zui小基材厚度：Fe - .01 英寸                               Fe - .01英寸
Nfe - .002英寸
电源：9v碱性                                              9v碱性
重量：4.5盎司 w /电池                                     4.5盎司W /电池
外形尺寸：6.5“×2.5”×1.5                              "6.5‘×2.5’×1.5"
环境温度：40°F至120°F                                   40°F至120°F