便携式涂镀层(覆层)测厚无损检测方法有：磁性法，涡流法，β射线背散射，微电阻法，XRF-x射线法，重量法，机械量具法。等

便携式涂镀层(覆层)测厚破坏式检测方法包括：库伦法，金相显微镜法，溶解法，点滴法，液流法，和轮廓仪法，干涉显微镜法等

下面就几种常用的方法进行简单的介绍：

磁感应法原理：

※低频交流励磁电流产生低频磁场，磁通量密度由测量探头和铁磁性基材之间的距离决定。

※通过采集线圈产生探头输出信号，经仪器根据探头特征以及匹配的数学变换模型转化为涂镀层厚度。当测头与覆层接触时，测头和磁性金属基体构成一闭合磁路，由于非磁性覆盖层的存在，使磁路磁阻变化，通过测量其变化可计算覆盖层的厚度。

用于测量：

�铁磁性基材上的非磁性涂镀层厚度，如钢上锌、铬、铜、锡、或涂层、塑料、瓷釉

�奥氏体焊接金属或双联不锈钢中的δ铁素体含量

型号举例:

德国菲希尔DeltaScope FMP10/30,QNix4200 (含QNix4200、QNix4200/5、QNix4200P、 QNix4200P5 )等

无损－磁性法－霍尔效应法

霍尔效应法原理：

※永磁体产生恒定的磁场。场强由待测的镍层厚度决定。当测量钢上的非铁涂镀层时，场强将正比于探头末端与钢基材的距离。

※通过霍尔效应传感器测量磁场强度，进而运算出该涂镀层的厚度。

用于测量：

�堆积于非导电性或非铁基材上的镀镍层厚度

�钢上的非铁金属镀层，如铜、铝、或铅皮（优势：当测量厚的非铁镀层时，无涡流误差。）

型号举例：德国epk MiniTest FH7200/FH7400，香港嘉仪CanNeed-MBT-300，Hallmag-220，日本奥林巴斯Magna-Mike 8600等

无损－振幅敏感涡流法

振幅敏感涡流法原理：

※高频磁场在导电性基材中感生涡流。该涡流的振幅大小由探头线圈与基材的距离决定。

※基材中产生的涡流会引起探头线圈中的反射阻抗变化，由此而得测量信号。

用于测量：

�有色金属上的电绝缘性覆层，如铝、黄铜、或锌上的油漆、粉末覆层，塑料。以及铝的阳极氧化层厚度。

良好导电性有色金属（如铬）上的导电性较低的有色金属镀层，或铜、铝、黄铜中非电解镍镀层（化学镀镍层）

型号举例：IsoScope FMP10,IsoScope FMP30等

改进的涡流法－涡流相位法

涡流相位法原理：

※励磁电流产生高频磁场，该磁场在材料（镀层或基材）中感生涡流。

※应用镀层材料和底层材料中涡流的形态不同进行镀层厚度测量。

※利用对材料电导率的函数关系，可以测量导电性。

※励磁电流与测量信号之间的相位改变量 φ 转变成镀层厚度值，或各自的电导率值。

※在由探头决定的一定范围内，读数与探头和镀层表面的距离无关－非接触测量。

型号举例：菲希尔RPHASCOPE PMP10 和PHASCOPE PMP10 DUPLEX

微电阻法原理：

※探头用4个电极接触试样表面。

※外侧两个电极给镀层一个电流，把两个内侧电极之间的铜镀层当作一个电阻，并且可以测得该电阻引起的电势降低。

※电势降低与铜镀层厚度间接成比例。

※应用探头的特别输出信号，如测量信号和镀层厚度的机能相关性。

※铜镀层的电导率受温度影响，因此需要温度补偿。

用于测量：

�PCB上面的铜覆层的厚度测量，且不受下面的铜层影响。

温度补偿：表面温度可手动输入，或通过连接到温度模块上的温度传感器测得

型号举例：菲希尔SR-SCOPE RMP30-S，牛津测厚仪等

无损－X射线荧光测量

XRF原理：

※X射线管产生初级射线照射在受检物质时，会激发物质放射X射线荧光辐射，特定的元素有特定的辐射；接收器便会记录这些能量光谱。

※在受检物质内的元素，通过光谱的能量峰值特性便能辨别出来；通过辐射强度的分析，便可鉴定元素的含量。

用于测量：

�由于可测量的元素范围拓展至从铝到铀，X射线可应用于冶金学、地质学、鉴证学或自然科学等。

型号举例：德国菲希尔FISCHERSCOPE XAN 220，FISCHERSCOPE X-RAY XAN 500等

破坏－库伦法

库伦法原理：

※通过受控条件下的电流通路，把金属镀层从其金属或非金属底材上移除——实际上可称为电镀的逆过程。

※应用的电流与逆电镀的金属质量直接成比例。

※假设逆电镀电流和逆电镀面积保持不变，逆电镀时间和镀层厚度呈确定的相关性。

应用：

�除了XRF之外，唯有库伦法能够快速测量多镀层系统，如钢或塑料（ABS）底材上Cr/Ni/Cu镀层厚度。

�同时，单和双镀层，如钢上锌层、银上镀镍再镀锡，用库伦法也可毫无问题地测量。

型号举例：couloscope cms2库仑电解测厚仪,COULOSCOPE CMS2 STEP,GALVANOTEST2000/3000的等