MiniTest 700测厚仪Elektrophysik代理

MiniTest 700测厚仪Elektrophysik代理

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2022-07-05 14:23:01
764
属性:
产地类别:进口;价格区间:1千-5千;应用领域:电子,交通,冶金,航天,汽车;
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产品属性
产地类别
进口
价格区间
1千-5千
应用领域
电子,交通,冶金,航天,汽车
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笃挚仪器(上海)有限公司

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产品简介

MiniTest 700测厚仪Elektrophysik代理。在对精度要求不高的条件下,您可以短时间测量大量数值;也可以只测量少数几个数值,但要求精度很高,您只需选择相应的模式就可以做到。测量值超过您所设定的极限值时,仪器会报警,保证您即使在快速模式下也不会错过任何信息。仪器具备声、光报警,在极限范围内用绿色LED灯表示,超过极限值则用红色LED灯提示。

详细介绍

MiniTest 700测厚仪Elektrophysik代理


MiniTest 700测厚仪Elektrophysik代理


笃挚仪器(上海)有限公司的产品和系统方案广泛应用于大中型国有企业、汽车制造业、精密机械、模具加工、电子电力、铸造冶金、航空航天、工程建筑、大专院校等研究实验室和生产线、质量控制和教育事业,用于评价材料、部件及结构的几何特征和理化性能,推动着先进制造技术的精益求精。


MiniTest 700多功能测厚仪是一款多功能涂层测厚仪,高精度和更加灵活耐用的探头,自动识别操作方便。结构紧密和多功能化的传感器接入设备可用于各种测量工作。MINITEST700系列测厚仪能方便无损测量钢铁磁基板上非磁性涂料(油漆、合成材料、铬等)和导电基板(铝、铜、奥氏体不锈钢)上的绝缘涂料(清漆、磁漆、合成材料,阳极化铝等)。

MiniTest 700测厚仪有三个型号:

MINITEST 725:与集成传感器测量装置。
MINITEST 735:传感器通过电缆连接到测量设备。
MINITEST 745:传感器就可以插入设备(相当于一个集成的传感器),通过电缆连接到设备,或通过蓝牙无线连接到设备。


技术特征:

创新的SIDSP(探头内部数字信号处理)技术提升了测量的性
- 测量范围达15mm,可F、N或FN探头,提供内置或外接探头
- FN探头自动识别F(铁磁性)或N(非磁性)基体,操作方便不易出错


产品优点:

SIDSP使测量不受干扰,测值更加
- 可更换探头使用更加灵活(MiniTest740探头可由内置换为外置)
- FN探头自动识别基体,使测量更迅速,避免操作错误
- 温度补偿功能避免温度变化引起的错误
- 生产过程中50点校准使仪器获得高度的特征曲线
- 大存储量,能存储10或100组多达100,000个读数
- 读数和统计值能单独调出
- 超大,背光显示屏,显示内容可180度旋转
- 菜单指引操作,25种语言可选
- 带IrDA接口,红外线传输数据到打印机和PC
- 可下载更新软件


测量模式:


技术参数--主机

主机型号

MiniTest720

MiniTest730

MiniTest740

探头类型

内置

外置

内置外置可换

数据记忆组数

10

10

100

存储数据量

最多10,000个

最多10,000个

最多100,000个

统计值

读值个数、最小值、最大值、平均值、标准方差、变异系数、组统计值(标准设置/自由配置)

校准程序符合标准和规范

ISO、SSPC、瑞典标准、澳大利亚标准

校准模式

出厂设置校准、零点校准、两点校准、三点校准,使用者可调节补偿值

极限值监控

声、光报警提示超过极限

测量单位

μm,mm,cm;mils,inch,thou

数据接口

IrDA 1.0(红外接口)

电源

2节AA电池

标准

DIN EN ISO 1461,2064,2178,2360,2808,3882,19840
ASTM B244,B499,D7091,E376
AS 3894.3,SS 1841 60,SSPC- PA 2

操作温度 /存放温度

-10℃~60℃/-20℃~70℃

体积

157mm x75.5mmx49mm

重量

约175g

约210g

约175g(内置)/230g(外置)

技术参数-探头

探头特性

F1.5,N07,FN1.5

F2

F5,N2.5,FN5

F15

F

N

F

F

N

F

测量范围

0~1.5mm

0~0.7mm

0~2mm

0~5mm

0~2.5mm

0~15mm

使用范围

小工件,薄涂层

粗糙表面

标准探头,使用广泛

厚涂层

测量原理

磁感应

电涡流

磁感应

磁感应

电涡流

磁感应

信号处理

探头内部32位信号处理(SIDSP)

±(1μm+0.75%读值)

±(1.5μm+0.75%读值)

±(5μm+0.75%读值)

重复性

±(0.5μm+0.5%读值)

±(0.8μm+0.5%读值)

±(2.5μm+0.5%读值)

低端分辨率

0.05μm

0.1μm

1μm

最小曲率半径(凸)

1.0mm

1.5mm

5mm

最小曲率半径

(凹,外置探头)

7.5mm

10mm

25mm

(凹,内置探头)

30mm

30mm

30mm

最小测量面积

Ø5mm

Ø10mm

Ø25mm

最小基体厚度

0.3mm

40μm

0.5mm

0.5mm

40μm

1mm

连续模式下测量速度

每秒20个读数

单值模式下最大测量速度

每分钟70个读数



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