X荧光光谱仪分析方法是一个相对分析方法，任何制样过程和步骤必须有非常好的重复操作可能性，所以用于制作标准曲线的标准样品和分析样品必须经过同样的制样处理过程。X射线荧光实际上又是一个表面分析方法，激发只发生在试样的浅表面，必须注意分析面相对于整个样品是否有代表性。此外，样品的平均粒度和粒度分布是否有变化，样品中是否存在不均匀的多孔状态等。样品制备过程由于经过多步骤操作，还必须防止样品的损失和沾污。
 

　　X荧光光谱仪操作时注意事项：
 

　　1、在测量过程中，不要突然断电。
 

　　2、不要直接分析低熔点样品，如低熔点沥青、苯酚、油漆等，有些样品在室温下是固体，经射线照射会融化，如果滴到光管头上，会损坏仪器。如果要分析，请放在液体杯内测量。
 

　　3、分析液体样品和粉末样品时，必须在氦气模式下测量，不能抽真空。
 

　　4、不要长时间分析液体样品，液体杯的照射时间一般不能超过半小时。
 

　　5、不要分析压得不坚实的样品，如有裂纹的压片。如果大块样品掉到了样品室，不能再进行样品分析，请通知三翔分析仪器。
 

　　6、光管头上的铍窗是有毒的，而且比较贵重，一旦铍窗破了，整根光管就报废了，请注意：不能用任何物体碰光管头上的铍窗。如果有样品掉到铍窗上，只能用吸耳球将铍窗上的样品轻轻吹掉，不要用酒精棉花擦。