TM Electronics SOLUTION-C 系统用于测试那些不能通过入口加压，比如密封的医疗、药品和食品等的软性包装，并能提供定量的测试结果。结合加压/真空衰减泄漏测试的灵敏性和密封腔体的稳定性，TM Electronics SOLUTION-C系统配合Pressure/Vacuum decay chamber能检测出小到5微米的小孔。广泛应用于泡罩，软包装袋，瓶，复合薄膜，金属箔，薄板材等。

优良的性能:

• 高重复性
• 加压或是真空衰减测试
• 检测针孔，裂纹，密封或是管道泄漏
• 实时统计分析和质量控制表
• 工业，医疗，食品和药品应用
• 追溯NIST校准服务
• CFR Part 11 数据保护
• 符合美国包装协会标准

药品/食品应用：泡罩，瓶，软包装袋，密封盖，管路，复合膜，金属箔，薄板

气压/真空腔体衰减测试如何进行？

当往测试腔体通入气体，在密封的测试腔体壁内外可能形成一个气压差。当稳定后，空气从较高的气压流到较低的气压，将反应泄漏的存在，这样可以为包装完整性提供定量的测试数据，而不需要破坏密封的包装。

密闭的测试腔体，可以使用加压或是真空来建立气压差。测试物体放进腔体，然后对密闭腔体间隙空间加压（或是抽真空）。当达到测试气压值，TM Electronics SOLUTION-C检漏仪可以探测到空气从小到5微米的小孔泄漏。

TM Electronics Solution－C可以同步对测试结果进行统计分析，为客户提供适时的过程控制。更早期的发现过程生产中的问题，减少次品的产生。

仪器参数：

控制：按键，触摸屏，钥匙锁，电源开关,

测试通道：1,2,3 或 4 同时或顺序测试

测试模式：加压或是真空,气压差

型号气压范围：

加压:0.5-5, 0.5-15, 1-50, 2.0-100, 5.0-250 psig;

真空:0.2-28 inHg

分辨率： 衰减测试 zui大 0.0001 psi (0.01 mbar/sec)

显示： LCD文字/图像, 40字*16行

单位：PSI, Inches of H2O, kPa, mbar数据储存器：可达5000个测试数据

程序储存器：可达100个设定程序

统计方法：X-R控制图, 直方图,标准偏差,平均值,zui大/zui小,控制上限UCL/控制下限LCL

手动输出：打印测试设置参数，当前结果，要求的数据记录和统计信息Prints the

自动输出：将当前测试数据打印到设置的打印机

辅助输出：24V PLC输出接口

通信端口：双向上载或是下载程序

校准服务：追溯到NIST

时间范围：1 到 1000 秒

尺寸：宽8 1/2” x深16” x 高10”

电源要求：110/220V, 50/60Hz, 150 Watt

仪器特色：

• 多个存储程序：可以编程和存储多达100个不同的测试或是测试参数
• 存储5000个测试结果
• 调整设置时间（加压，稳定，测试）
• 设置拒收限制，检测精检漏或粗检漏双
• 切换能力－提升生产效率
• 气压增加测试－检查阀门关闭
• 管长度或是孔尺寸分析双向RS232计算机连接，交换数据和远程参数控制。可选以太网连接
• 声音和指示器显示拒收警告
• 触摸屏菜单容易使用，让您轻松实现所有灵活性