Ｘ荧光光谱仪  高灵敏度信号电子电路检测仪  贵金属测试仪

型号：AODJ- EDX860D

Ｘ荧光光谱仪  高灵敏度信号电子电路检测仪  贵金属测试仪介绍  

      本仪器专门针对贵金属测试，可测试环形样品内壁及普通平面测试，具有以下特点：体积小巧，外型庄重大方，

手动升降平台满足不同大小样品的测试，样品固定方便快捷，可方便更换准直器，准直器直径为1.5mm，可测试

较小区域，下照式，大窗口正比计数盒计数率满足分析需要，宽阔样品腔可满足较大样品的测试，摄像头

激光定位实现可视化定位，良好的射线屏蔽确保操作人员。

性能特点

1.大功率光管；

2. 超大窗口面积正比计数盒；

3. 外型小巧，庄重大方；

4. 宽阔样品腔，方便操作及测试较大样品；

5. 手动升降平台确保测试不同大小环状样品；

7．小准直器，利于测试样品小区域；

8. 摄像头与激光定位，可视地定位到被测点，测试时激光点自动关闭，利于拍摄清晰照片；

9. 良好的射线屏蔽确保操作人员的安全。

技术指标

分析含量一般为1ppm到99.9％；

任意多个可选择的分析和识别模型；

相互独立的基体效应校正模型；

多变量非线性回归程序；

多次测量重复性可达0.1％；

工作稳定性为0.1％。

电源：交流220V±5V；

测量时间：60-200S

管压：5-50KV

管流：50-1000μA

温度适应范围：15℃-30℃

标准配置

正比计数盒；

50W X光管；

高压电源 50kV@1mA；

摄像头激光定位装置；

高灵敏度信号检测电子电路；

手动升降平台；

样品夹；

橡皮泥；

准直器直径为1.5 mm。

应用领域

首饰加工厂

金银珠宝首饰店

贵金属冶炼厂