X荧光光谱仪  镀层厚度测量检测仪

型号： AODJ-EDX3600L

X荧光光谱仪  镀层厚度测量检测仪仪器介绍

       我公司研制生产的EDX3600L型的仪器，利用中国历史博物馆和上海硅酸盐研究所两大古陶瓷研究检测的部门提供的标准陶瓷片样品为仪器标定基准标样，一次性同时分析古陶瓷标本胎和釉中Na2O、MgO、Al2O3、CaO、Fe2O3、K2O、MnO、SiO2、TiO2、As、Cr、Cu、Co、Mn、Ni、Pb、Ti、V、Zn、Zr、Ba等化学成份含量，再对照中国古陶瓷数据库便可以达到断代断源的功效。同时，为了更好的利用X荧光分析仪器的无损测量特性，我公司特意根据行业需要制作超大型抽真空样品腔，以满足不同大小、器形的陶瓷样品的检测。

       EDX3600L型仪器在测试陶瓷的同时亦可以测试青铜器(Cu、Sn、Pb、Zn等)、贵金属（Au、Pt、Ag、Pb、Cu、Ni、Ru、Rh、Fe等）等的化学成份和金属镀层厚度，做到一机多用，是古文物检测*的科学检测仪器。中国历史博物馆、中国收藏家协会等古文物收藏部门都是其用户。

技术指标

测量元素范围：从钠（Na）至铀（U）

元素含量分析范围：1ppm—99.99%

分析精度：0.05%

同时分析元素：几十种元素同时分析

测量镀层：镀层厚度测量zui薄至0.01微米

测量对象状态：粉末、固体、液体

测量时间：60s—200s 

管压：5KV—50KV

管流：50uA—1000uA

输入电压：AC 110V/220V 

消耗功率：200W  

环境温度: 15-26℃ 

相对湿度: ≤70% 

超大抽真空样品腔：600*600*1000mm3

重 量 : 280KG

X荧光光谱仪  镀层厚度测量检测仪标准配置

电制冷UHRD探测器

内置信噪比增强器可有效提高仪器信号处理能力25倍

可自动切换型准直器和滤光片

光路增强系统

内置高清晰摄像头

加强的金属元素感度分析器

智能全元素分析软件，与仪器硬件相得益彰，且操作简单。

面光源

放大电路

高低压电源

X光管

多变量非线性回归程序

相互独立的基体效应校正模型。

三重安全保护模式

应用领域

古陶瓷

古青铜器

古首饰

镀层测厚