半导体器件检测仪 电容电压特性测试仪 数字电容测试仪 

半导体器件检测仪型号AODD-CV-2000

作为组成半导体器件的基本结构的PN结具有电容效应（势垒电容）。加正向偏压时，PN结势垒区变窄，势垒电容变大；加反向偏压时，PN结势垒区变宽，势垒电容变小。

DL19-CV-2000型电容电压特性测试仪是测试频率为1MHz的智能化数字的电容测试仪器，于测试半导体器件PN结的势垒电容在不同偏压下的电容量，也可测试其它电容。

面板上的发光二极管指示仪器的工作状态，用数码管组成的显示板，将被测元件的数值，小数点清晰地显示出来。仪器有较高的分辨率，电容量是四位读数，可分辫到0.01pF，偏置电压分辨力为0.1V，漏电流分辨力为0.01uA。

仪器配有LY.4-CV-2000型测量座，接插元件灵活，方便可靠。

本仪器测量技术，性能稳定可靠，功能齐全。操作简便，测试速度快，精度高。可广泛应用于元件生产厂，科研部门，国防军工，高等院校等各个部门。

技　术　指　标：

测试信号频率1.000MHz±0.01%

测试信号电压小于或等于100mVrms

电容测量范围1.00pF～1000pF

工作误差±3.0%±2字

直流偏压zui大100V

供电电源交流电压：220V±5%；

频率：50Hz±5%；

消耗功率：不大于40W；

工作环境温度：0—40℃；

湿度：20%~90%RH40℃；