FISCHERSCOPE® X-RAY 系列产品

      X射线荧光镀层测厚仪、材料分析仪
 

从1953年至今，菲希尔公司不断地在涂镀层测厚、材料分析、微硬度测量和材料测试领域发展出创新型的测量技术。如今，菲希尔的测量技术已在世界各地得到应用，满足客户对仪器准确度、精度和可靠性的要求。目前，有超过10000台X射线仪器投入使用，而FISCHERSCOPE® X-RAY品牌也已成为强大，可靠和耐用的X射线荧光测量设备的代名词。

原理：

X射线荧光分析基于以下物理现象：样品材料中的原子由于受到初级X射线轰击，从而失去内层轨道中的某些电子。失去电子所留下的空穴会被外层电子来填补，在填补的过程中，会产生每个元素*的特征X射线荧光。接收器探测到该荧光射线后，便能提供样品的材料组成等信息。
  

 应用：

    •  由于能量色散X射线荧光光谱法可以分析材料成分和测量薄镀层及镀层系统，因而应用广泛：在电子和半导体产业里，测量触点上薄金，铂和镍层厚度或痕量分析。
​    •  在钟表和珠宝行业或采矿精炼工业中，准确分析贵金属合金组分。
​    •  在质量管控和来料检验中，需要确保产品或零部件*材料设计规范。如在太阳能光伏电池产业中，光伏薄膜的成分组成和厚度大小决定了光伏电池的效率。在电镀行业中，则需要测量大批量部件的厚度。
​    •  对于电子产品的生产者和采购者，检验产品是否符合《限制在电子电气产品中使用有害物质的指令》（RoHS指令）也是十分关键的。
​    •  在玩具工业中，也需要有可靠的有害物质检测手段。
​    •  对于以上测量应用，菲希尔的FISCHERSCOPE X-射线光谱仪都能完美胜任。