德国Mahr Perthometer S2粗糙度仪总代理

特征:
•  依照现行标准可实现粗糙度和波度测量
(DIN EN ISO 3274, 例如: 带通滤波器)
•  重量轻 (不包括内置充电电池)
•  高分辨率的图形显示, 可清晰显示测量结果和轮廓
• 基于自动测量原理和多测量元素, 使得操作更简单
• 通过内置热敏打印机, 快速打印测量记录
• PCMCIA 存储卡可存储测量程序、测量结果和轮廓
• S2Prog 扩展程序, 可简单地建立测量程序

•  用途广泛和简易应用的软件功能, 例如:
-  自动设置标准滤波器和扫瞄长度功能
-  校准和维护周期监察功能
-  弧线滤除功能
-  动态和静态校准程序
-  多达 41 种评定参数, 按照 DIN EN ISO, JIS, ASME,
MOTIF, R, W, P 和 D 轮廓及特性曲线, 并可设定
MRC/ADC 不同比例缩放
-  滤波器和扫瞄长度可选
-  公差监控, 以声音和图标提示
-  密码保护功能, 防止错误的设置和修改
-  内置统计功能
-  独立功能按键
-  简易呼出和打印测量记录及各种功能
•  通过 PCMCIA 记忆于进行软件升级
•  SPC 接口可实现 S2 与生产程序连接
•  RS 232 接口可实现数据传输和远程控制
测量原理   探针接触测量法
测量范围
范围/分辨率  ± 25 μm/0.8 nm
(± 1,000 μin/.032 μin)
± 250 μm/8 nm
(± 10,000 μin,/.315 μin)
± 2,500 μm/80 nm
(± 100,000 μin/3.15 μin)
65,536 步长/垂直范围
11,200 测量点/标准扫瞄长度
标准  DIN EN ISO/JIS/ASME 46.B
轮廓类型  R, D, P, W (轮廓可例转) 
垂直方向缩放比例 0.1 μm/div. 至 5,000 μm/div.  或自动
(3.937 μin/div. 至 .197 in/div.) 
水平方向缩放比例 1 μm/div. 至 5,000 μm/div.  或自动
用于评定长度轮廓   (39.370 μin/div. 至 .197 in/div.) 
图形 lm 0.40/1.25/4.00/12.50/40.00 mm
(.015/.049/.157/.492/1.575 in)
扫瞄长度 Lt 0.56/1.75/5.6/17.5/56.00 mm
(.022/.070/.224/.700/2.240 in)
扫瞄长度 1/2/4/8/12/16  mm
(MOTIF)  (.040/.080/.160/.320/.480/.640 in)
特殊扫瞄长度 0.56 至 120.00 mm, 可调
(.022 in 至 4.724 in)
取样长度个数 1 至 5, 可选
滤波器 (根据 ISO/JIS)  相位滤波器 (高斯滤波器), 按照
DIN EN ISO 11562 标准
特殊滤波器  按照 DIN EN ISO 13565-1, 1997;
lc/ls 按照 ISO 3274, ARC 功能
截止波长 lc 0.08/0.25/0.8/2.5/8 mm
(.003/.010/.032/.100/.320 in)
短截止波长 lc/可选   有
参数  Ra, Rq; Rz, Rt, Rp, Rv, RSm, Rdq, 
(带有公差极限)  Rsk, Rku, Rdc, Rmr, Pmr, Pt, Wt, Pdc
(DIN EN ISO 4287), Wa, HSC, Wg, WSm,
Rz1max, Rmax (DIN 4288),
Rpk, Rk, Rvk, Mr1, Mr2, Pdc, A1, A2
(DIN EN ISO 13565)
Rpmax, Rvmax, Rpc (prEN 10049), R, Ar,
W, Aw, Rx, , Wte, Nr, Ncrx, Nw, CP
(ISO 12085), R3z (DBN 31007), RzJ, S
(JIS B 601)
参数表 Rmr; Pmr; Rdc; Pdc; Rk; Rz; Rp;
Nf; CR/CF/CL (轮廓种类可选, 基线
和交叉线可调)
特征曲线  轮廓图, 材质比率(Abbott 曲线), 震
幅密度; (轮廓种类可选)
校准功能  动态和静态
公差监控  有, 大/小
自动功能  有, 选择标准滤波器和扫瞄长度
统计  每个测量程序10 个参数
X, S, R; Max, Min, 多 200 个测量
超差结果统计
无效测量统计
13种语言   英语, 德语, 法语, 意大利语, 葡萄
牙语, 西班牙语, 瑞典语, 丹麦语,
捷克语, 波兰语, 中文, 韩语, 日本
软件 S2Prog Windows 程序;
MarSurf  XR 20 (可选)
密码保护  有
日期/时间   有
单位 mm/inch   可选
存储 PCMCIA 记忆卡用来存储轮廓、测
量结果、测量程序/ 内置存储测量结
果和统计
显示  带背景光的 LCD 图像显示, 黑白480 x
320 像素, 轮廓演示
键盘  薄膜键盘
打印机  热敏图表打印机,
384 点/行;
8 点/mm  (200 点/in) 
打印速度  5 mm/s (.2 in/s)
打印  自动/手动, 记录日期和/或时间
尺寸 (高x阔x深)   约 150 x 320 x 250 mm
(5.906 x 12.600 x 9.843 in)
装置防护等级 IP 40;
键盘防护等级 IP 54;
温度范围
存储  –15 to +55 °C (41°F to 104°F) 
操作  +5 to +40 °C (5°F to 131°F) 
相对湿度 30 % to 85 % (非压缩) 
重量 < 3 kg (6.6 lbs)
电源  拔插电源9 V; 镍镁电池
充电情况显示  有显示
电源管理  有
连接  驱动器, RS 232 C 和 SPC 接口, 拔插
电源, PCMCIA 卡槽, 保险丝
电感传感器  运送频率 20 kHz
传感器种类/  R-系列 (滑块):
测量范围
(设定 2 μm   ±50/250 μm (± 2000 μin/10,000 μin)
(.00039 in)/90°) MFW (skidless): ±250  μm (10,000 μin)
FRW (skidless)  (10 μm (400 μin), 90°):
± 750 μm (30,000 μin)
Focodyn, LS1/LS10 (选配):
± 250 μm (10,000 μin)
测量力   R-系列: 约 0.7 mN
MFW: 0.7 mN / FRW: 6 mN
Focodyn/LS 1/LS 10: 激光
驱动器 PZK, GD 25, PGK 120, PRK 通过 PAV 62
测量速度  0.1 和 0.5 mm/s (.0394 和 0.197 in/s)

主营设备有如下：

粗糙度仪，表面轮廓仪，圆度仪，圆柱度仪，淬火硬化层深无损测量仪，零部件清洁度检测系统，关节臂，三坐标探头测针，工业视频内窥镜，平面度测量仪，光谱仪，测高仪，测长机，齿轮啮合仪，齿轮测量中心，超声波探伤仪，涡流探伤仪，高精度涂镀层测厚仪，超声波测厚仪，涂层测厚仪，硬度计，渗碳层测厚仪，渗氮层深度无损检测仪，红外热像仪，红外测温仪，投影测量仪，影像测量仪，材料试验机，门尼粘度计，测振仪等精密测试测量仪器。