马尔Perthometer S2粗糙度仪

德国马尔Perthometer S2粗糙度仪丰富的供货配件和服务并不意味着操作上的困难。你知道怎么使用街上的自动柜员机么 S2的使用就和它一样简单。
范围广、方便使用的软件功能，例如
- 自动设定标准化滤波器和行程长度
- 校准和维护周期的自动监控
- ARC 功能用于消除arc 影响
- 动态和静态校准过程
- 可评定多达 41 参数，根据DIN EN ISO, JIS, ASME, MOTIF,
  R, W, P 和 D 设定的轮廓参数标准，以及MRK/ADK 等特征曲线 
- 多种滤波器和行程长度可选
- 声光信号提示的公差监控
- 仪器设置锁定，以防止意外更改和密码保护
- 内置统计功能

技术数据:
测量原理   探针接触测量法
测量范围
范围/分辨率  ± 25 μm/0.8 nm
(± 1,000 μin/.032 μin)
± 250 μm/8 nm
(± 10,000 μin,/.315 μin)
± 2,500 μm/80 nm
(± 100,000 μin/3.15 μin)
65,536 步长/垂直范围
11,200 测量点/标准扫瞄长度
标准  DIN EN ISO/JIS/ASME 46.B
轮廓类型  R, D, P, W (轮廓可例转) 
垂直方向缩放比例 0.1 μm/div. 至 5,000 μm/div.  或自动
 (3.937 μin/div. 至 .197 in/div.) 
水平方向缩放比例 1 μm/div. 至 5,000 μm/div.  或自动
用于评定长度轮廓   (39.370 μin/div. 至 .197 in/div.) 
图形 lm 0.40/1.25/4.00/12.50/40.00 mm
(.015/.049/.157/.492/1.575 in)
扫瞄长度 Lt 0.56/1.75/5.6/17.5/56.00 mm
(.022/.070/.224/.700/2.240 in)
扫瞄长度 1/2/4/8/12/16  mm
(MOTIF)  (.040/.080/.160/.320/.480/.640 in)
特殊扫瞄长度 0.56 至 120.00 mm, 可调
(.022 in 至 4.724 in)

测量工作站包含有:
Perthometer S2 评定单元
驱动器单元PZK, 可外接 PGK 20, GD 25, PGK 120
无导头式 MFW 传感器套装 (集成于PZK中)
测量立柱 (PST-D, PST-F, PST-G, PST-SE, ST 500等型号) 

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