ElektroPhysik/德国EPK 品牌
代理商厂商性质
上海市所在地
涂镀层测厚仪minitest740探头内置外置可换，让用户使用更加灵活，涂镀层测厚仪minitest740更换不同探头既可测小工件，薄涂层，也可测厚涂层，zui大测量到15mm
MiniTest720/MiniTest730/MiniTest740涂层测厚仪MiniTest720/MiniTest730/MiniTest740涂层测厚仪MiniTest720/MiniTest730/MiniTest740涂层测厚仪MiniTest722/MiniTest735/MiniTest745涂层测厚仪
涂镀层测厚仪minitest740-优点：
-SIDSP使测量不受干扰，测值更加准确
-FN探头自动识别基体，使测量更迅速，避免操作错误
-温度补偿功能避免温度变化引起的错误
-生产过程中50点校准使仪器获得高准确度的特征曲线
-大存储量，能存储10或100组多达100,000个读数
-读数和统计值能单独调出
-超大，背光显示屏，显示内容可180度旋转
-菜单指引操作，25种语言可选
-带IrDA接口，红外线传输数据到打印机和PC
-可下载更新软件
SIDSP技术-*新技术，智能数字化的涂层测厚探头
模拟信号处理时代已成过去，数字信号处理将成为未来的趋势
MiniTest 720/730/740涂层测厚仪采用的SIDSP是什么？
SIDSP是由ElektrPhysik（简称EPK）研发的，世界**的涂层测厚探头技术。EPK此项技术为涂层测厚领域的**奠定了新标准。SIDSP即探头内部数字信号处理，这项技术使探头在测量时，同时在探头内部将信号*处理为数字形式。SIDSP探头*依据世界**技术生产。
MiniTest 720/730/740涂层测厚仪的SIDSP工作原理？
跟传统技术不同，SIDSP在探头顶部产生和控制激发信号，回传的信号经过32位数字转换和处理，带给您准确的涂层厚度值。此项的数字处理技术，同时应用在现代通讯技术（手机网络）方面，如数字滤波器，基带转换，平均值，随机分析，等等。此项技术能获得与模拟信号处理*的信号质量和准确度。厚度值通过探头电缆数字化传输到显示装置。
SIDSP探头与普通模拟探头相比，具有决定性的优势，为涂层测厚设定了一个新的标准。
主机技术参数
主机型号 | MINITEST 720 | MINITEST 730 | MINITEST 740 |
探头类型 | 内置 | 外置 | 内置外置可换 |
数据记忆组数 | 10 | 10 | 100 |
存储数据量 | *多10,000个 | *多10,000个 | *多100,000个 |
统计值 | 读值个数、*小值、*大值、平均值、标准方差、变异系数、组统计值(标准设置/自由配置) | ||
校准程序符合际标准和规范 | ISO、SSPC、瑞典标准、澳大利亚标准 | ||
校准模式 | 出厂设置校准、零点校准、两点校准、三点校准，使用者可调节补偿值 | ||
限值监控 | 声、光报警提示超过限 | ||
测量单位 | μm，mm，cm；mils，inch，thou | ||
操作温度 | -10℃~60℃ | ||
存放温度 | -20℃~70℃ | ||
数据接口 | IrDA 1.0(红外接口) | ||
电源 | 2节AA电池 | ||
标准 | DIN EN ISO 1461，2064，2178，2360，2808，3882，19840 | ||
体积 | 157mm x 75.5mm x 49mm | ||
重量 | 约175g | 约210g | 约175g(内置)/230g(外置) |
探头
探头特性 | F1.5，N07，FN1.5 | F2 | F5，N2.5，FN5 | F15 | ||
F | N | F | F | N | F | |
测量范围 | 0~1.5mm | 0~0.7mm | 0~2mm | 0~5mm | 0~2.5mm | 0~15mm |
使用范围 | 小工件，薄涂层 | 粗糙表面 | 标准探头，使用广泛 | 厚涂层 | ||
测量原理 | 磁感应 | 电涡流 | 磁感应 | 磁感应 | 电涡流 | 磁感应 |
信号处理 | 探头内部32位信号处理(SIDSP) | |||||
较准确度 | ±(1μm+0.75%读值) | ±(1.5μm+0.75%读值) | ±(5μm+0.75%读值) | |||
重复性 | ±(0.5μm+0.5%读值) | ±(0.8μm+0.5%读值) | ±(2.5μm+0.5%读值) | |||
低端分辨率 | 0.05μm | 0.1μm | 1μm | |||
*小曲率半径(凸) | 1.0mm | 1.5mm | 5mm | |||
*小曲率半径 | 7.5mm | 10mm | 25mm | |||
*小曲率半径 | 30mm | 30mm | 30mm | |||
*小测量面积 | Φ5mm | Φ10mm | Φ25mm | |||
*小基体厚度 | 0.3mm | 40μm | 0.5mm | 0.5mm | 40μm | 1mm |
连续模式下测量速度 | 每秒20个读数 | |||||
单值模式下*大测量速度 | 每分钟70个读数
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