阻抗型石英晶体微天平检测技术与特点说明
时间:2021-03-27 阅读:1410
通过软件设置,电子单元对芯片两面施加一个电压随后断开,芯片发生振动、产生电信号并传输回电子单元,振动的频率和振幅记录在软件系统里;
当样品流经芯片上方,有物质吸附在芯片上或者将芯片上的物质冲走时,都会改变芯片的振动状态并被记录下来;
芯片振动状态与芯片上方物质的改变量,包括质量,厚度,密度和柔软程度有关,所以软件通过数学分析的方法可以获取芯片上方物质的这些变量。
测定吸附层质量,并同步提供粘弹性等结构信息。可测定多种不同类型表面的分子相互作用和分子吸附行为,同时可检测分子的结构变化以及吸附与解析的动态过程。
阻抗型石英晶体微天平的特点:
1.测量低、中、高频0.02~100MHz范围内石英晶体谐振频率、等效电阻。
2.第四代升级产品,频率电调谐,机内带可调负载电容。
3.频率数显,阻抗指针式显示。
4.频率测量精度≤5PPM,可选配更高精度频标。
5.可选配八位频率和四位PPM同时显示,频率上下限、分档分选功能。
6.上下限频率分别设置,超出范围(不合格)时自动声光报警。