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高低温冲击试验箱 High And Low Temperature Shock Test Chamber
西安高低温冲击试验箱厂家 High And Low Temperature Shock Test Chamber技术参数
型号 | CTS-50 | CTS-120 | CTS-180 | ||||||
性 能 参 数 | 高温室 | 温度暴露范围 | +60~+200℃ | ||||||
预热温度上限 | 200℃ | ||||||||
升温时间 | R.T.→+200℃约40min | ||||||||
低温室 | 温度暴露范围 | 0~-75℃ | |||||||
预冷温度下限 | -75℃ | ||||||||
降温时间 | R.T.→-70℃约60min | ||||||||
提篮 | 温度范围 | -65~150℃ | |||||||
温度波动度 | ≤1℃(≤±0.5℃,按GB/T5170-1996表示) | ||||||||
温度偏差 | ≤±2℃(-65℃~+150℃) | ||||||||
转换时间 | ≤5S | ||||||||
温度回复时间 | ≤5min | ||||||||
温 度 回 复 条 件 | CTS-50 | 条件一 | 高温暴露+150℃低温暴露-65℃,暴露时间30min,样品重量5Kg铝 | ||||||
条件二 | 高温暴露120℃,低温暴露-40℃,暴露时间30min,样品重量10Kg铝 | ||||||||
CTS-120 | 条件一 | 高温暴露+150℃低温暴露-65℃暴露时间30min,样品重量10Kg铝 | |||||||
条件二 | 高温暴露120℃,低温暴露-40℃,暴露时间30min,样品重量30Kg铝 | ||||||||
CTS-180 | 条件一 | 高温暴露+150℃,低温暴露-65℃暴露时间30min样品重量15Kg铝 | |||||||
条件二 | 高温暴露120℃,低温暴露-40℃,暴露时间30min,样品重量30Kg铝 | ||||||||
结 构 | 外壳 | 冷轧钢板表面喷塑(象牙白) | |||||||
内胆 | 不锈钢板 | ||||||||
隔热材料 | 聚氨酯发泡+超细玻璃棉 | ||||||||
制 冷 | 制冷方式 | 风冷 | 水冷 | ||||||
制冷机 | 进口压缩机 | ||||||||
温度传感器 | 铠装铂电阻 | ||||||||
控制器 | 西门子PLC模块+7英寸彩色液晶触摸控制屏 。 | ||||||||
数据存储与功能接口 | 本机SD数据卡RS485接口、USB接口 | ||||||||
提篮尺寸(mm) | D | 300 | 500 | 600 | |||||
W | 460 | 610 | 660 | ||||||
H | 350 | 400 | 450 | ||||||
外部尺寸(mm) | D | 2250 | 2720 | 2920 | |||||
W* | 1200 | 1050 | 1100 | ||||||
H | 1950 | 1950 | 2150 | ||||||
装机功率(KW) | 19.7KVA | 32KVA | 36KVA | ||||||
电源 | AC380V 50Hz三相四线制+接地线 | ||||||||
标准配置 | 产品使用说明书1份、试验报告1份、合格证及质量保证书各1份、打印纸5只、搁板2层、色带 1只、带脚轮。 | ||||||||
满足标准 | GJB 150.3、GJB 150.4、GJB150.5、GB/T 2423.1、GB/T 2423.2 |
热冲击试验(Thermal Shock Testing)常被称作温度冲击试验(Temperature Shock Testing)或者温度循环(Temperature Cycling)、高低温冷热冲击试验。
温度冲击按照GJB 150.5A-2009 3.1的说法,是装备周围大气温度的急剧变化,温度变化率大于10度/min,即为温度冲击。MIL-STD-810F 503.4(2001)持相类似的观点。
个人认为不能因此理解为大于这个速率的试验就是温度冲击试验。温度冲击试验的速率比这个情况要严苛。经常能听到说温度冲击的速率大于20度/min,30度/min,50度/分钟,甚至更快。
温度变化原因有很多,相关标准里面都有提及:
GB/T 2423.22-2012 环境试验 第2部分 试验N:温度变化
3 温度变化的现场条件
电子设备和元器件中发生温度变化的情况很普遍。当设备未通电时,其内部零件要比其外表面上的零件经受的温度变化慢。
下列情况下,可预见快速的温度变化:
——当设备从温暖的室内环境转移到寒冷的户外环境,或相反情况时;
——当设备遇到淋雨或浸入冷水中而突然冷却时;
——安装于外部的机载设备中;
——在某些运输和贮存条件下。
通电后设备中会产生高的温度梯度,由于温度变化,元器件会经受应力,例如,在大功率的电阻器旁边,辐射会引起邻近元器件表面温度升高,而其他部分仍然是冷的。
当冷却系统通电时,人工冷却的元器件会经受快速的温度变化。在设备的制造过程中同样可引起元器件的快速温度变化。温度变化的次数和幅度以及时间间隔都是很重要的。
GJB 150.5A-2009军用装备实验室环境试验方法第5部分:温度冲击试验
3.2应用
3.2.1正常环境
本试验适用于可能会在空气温度发生急剧变化的地方使用的装备。本试验仅用来评价温度急剧变化对装备的外表面、安装在外表面的零部件、或装在靠近外表面的内部零部件的影响。典型情况如下:
A) 装备在热区域和低温环境之间转换;
B) 通过高性能运载工具,从地面高温环境升到高空(只是热到冷);
C) 仅用外部材料(包装或装备表面材料)进行试验时,从处在高空和低温条件下热的飞机防护壳体内向外空投。
3.2.2安全性和环境应力筛选
除3.3所述外,本试验适用于提示装备暴露在低于温度变化速率(只要试验条件下不超过装备的设计极限)下通常出现的安全性问题和潜在的缺陷。本试验虽然用作环境应力筛选(ESS),但经适当工程处理后,也可以将其作为一个筛选试验(使用更温度的温度冲击),用来揭示装备暴露在低于温度条件下会出现的潜在缺陷。