其他品牌 品牌
代理商厂商性质
上海市所在地
英国Renishaw**|英国Renishaw总代理|雷尼绍TP200模块测头|TP20吸盘传感器|LP2DD测头|LP2H测头|雷尼绍总代理|雷尼绍光栅尺|线性编码器|读数头TP200/TP20/PH10M/ph10t/SP600/TP2/TP6A/SP25M/TP7MSP80三坐标测头大量现货MSR1MCR20SCR200SCR600FCR25三坐标自动交换架|雷尼绍测头上海总代理|英国雷尼绍华东区地区总代理|雷尼绍中国总代理|雷尼绍测头
TP200采用微应变片传感器，实现优异的重复性和**的三维轮廓测量，即使配用长测针时也不例外。传感器技术提供亚微米级的重复性，并且消除了机械结构式测头存在的各向异性问题。测头采用成熟的ASIC电子元件，确保了在数百万次触发中的可靠操作。
TP200B采用的技术与TP200相同，但允许更高的振动公差。这有助于克服因坐标测量机传导振动或在移动速度很高的情况下使用长测针所引发的误触发问题。请注意：我们不推荐TP200B配用LF模块或曲柄/星形测针。
| 摘要 | TP200 | TP200B |
|---|---|---|
主要应用 | 需要高精度的数控坐标测量机。 | 与TP200一样，但当出现误触发事件时。 |
传感器方向 | 六轴：±X、±Y、±Z | 六轴：±X、±Y、±Z |
单向重复性 (2s μm) | 触发水平1：0.40 μm 触发水平2：0.50 μm | 触发水平1：0.40 μm 触发水平2：0.50 μm |
XY（2D）轮廓形式测量偏差 | 触发水平1：±0.80 μm触发水平2：±0.90 μm | 触发水平1：±1 μm触发水平2：±1.2 μm |
XYZ (3D) 轮廓测量偏差 | 触发水平1：±1 μm触发水平2：±1.40 μm | 触发水平1：±2.50 μm触发水平2：±4 μm |
| 测针交换的重复性 | SCR200：±0.50 μm（**）手动：±1 μm（**） | SCR200：±0.50 μm（**）手动：±1 μm（**） |
| 测力（测尖） | XY平面（所有模块）：0.02 NZ轴（所有模块）：0.07 N | XY平面（所有模块）：0.02 NZ轴（所有模块）：0.07 N |
| 超程测力（位移为0.50 mm时） | XY平面（SF/EO模块）：0.2 N至0.4 NXY平面（LF模块）：0.1 N至0.15 NZ轴（SF/EO模块）：4.90 NZ轴（LF模块）：1.60 N | XY平面（SF/EO模块）：0.2 N至0.4 NXY平面（LF模块）：0.1 N至0.15 NZ轴（SF/EO模块）：4.90 NZ轴（LF模块）：1.60 N |
| 重量（测头传感器和模块） | 22 g | 22 g |
| *长加长杆（如配在PH10系列测座上） | 300 mm | 300 mm |
| 推荐的**测针长度（M2测针系列） | SF/EO模块：50 mm钢质至100 mm GF LF模块：20 mm钢质至50 mm GF | SF/EO模块：50 mm钢质至100 mm GF LF模块：20 mm钢质至50 mm GF |
| 安装方式 | M8螺纹 | M8螺纹 |
| 适合的接口 | PI200、UCC | PI200、UCC |
测针模块交换架 | 自动：SCR200手动：MSR1 | 自动：SCR200手动：MSR1 |
