TaylorHobson/英国泰勒霍普森 品牌
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英国泰勒霍普森TaylorHobson是粗糙度仪、轮廓仪、圆度仪以及圆柱度仪的发明者，提供从手持的现场级测量设备Surtronic 25、Surtronic DUO、Surtronic S-100系列新型粗糙度仪，经济型粗糙度轮廓仪Form TalySurf Intra，精密计量室的大型测量系统Form TalySurf i60/i120/i200电感系列，高精度PGI系列，以及用于研发而具有世界精度的CCI三维形貌测量系统和圆度仪Taylor Talyrond 130、圆柱度仪Talyrond 131C、及高精度圆柱度Talyrond 365/385/395和Talyrond 565/585/595系列。
S-100系列粗糙度仪采用新设计的精密机械结构及耐用测针，集中体现了准确且稳定可靠、并便于携带的现场需要，使其在广泛的应用领域中享有盛誉。Surtronic S-100系列可独立测量任何方向的表面(水平、垂直向下甚至反向向.上表面上使用) ;也可用卡具.将其固定安装在工作台上，用于批量测量和实验室应用。S- 100系列有两种型号可供选择: S-116 是标准产品，S-128则能够提供提高测量范围和分析能力。
➢提供多种测量参数以适合 不同的应用需求; ➢测针升降装置，直角测量 和可测深达70mm孔; ➢轮廓图形显示测量区域; ➢屏幕四个方向可切换，适 用于不顺手的测量位置; ➢USB 2.0充电或传输数据; ➢齐全的配件和测杆选件; ➢功能强大的软件选项。 |
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| 测量能力 | SurtronicS-116 | Surtronic S-128 |
| 量程: | 200μm100μm10μm | 400μm100μm10um |
| 分辨率: | 100nm20nm10nm | 50nm10nm5nm |
| 重复性: | 1 %值+噪音 | 0.5 %值+噪音 |
| X轴大行程: | 17.5 mm | 25.5 mm |
| 测量单位: | μm/ μin | |
| 分析标准: | ISO 4287, ISO 13565-1, ISO 13565-2, ASME 46.1, JIS0601, N31007 | |
| 测量参数: | Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rmr, Rdq, RpC, RSm, Rz1max, Rpm, Rda, RzJIS, RC, Rku, Rdc, R3z | |
| 高级参数: | 可选 | Rk, A1, A2, Mr1, Mr2, Rpk, Rvk; Pa, Pv,Pp,Pz, Pt, Pq, Psk, Pmr, Pdq, PpC, PSm, Pz1max |
| 数据显示: | 每页可显示7组结果，可显示带XZ轴的轮廓曲线图 | |
| 数据存储: | USB(4GB)可储存39 ,000个原始轮廓 | |
| 电池续航: | 大容量锂电池，可续航2000次测量 | |
| 即时接通: | 待机启动只需1秒便可进行测量 | |
Surtronic Duo是高级便携式表面粗糙度测量仪，显示与驱动单元可分离。只需按一键即可测量多个粗糙度参数。这些参数(如Ra、Rz、Rp、Rv和Rt,等等)会直观显示在2.4英寸LCD彩色屏幕上。使用大容量充电电池，便于在所有环境和表面进行快速、轻松和准确的现场测量。
| 测量能力: (ISO 4287) | Ra,Rz,Rp,RvRt, Rz1max, Rsk, Rq, Rku; Pa, Pz, Pp, Pv, Pt. |
| 传感器范围: | 200 μm |
| 传感器类型: | 压电晶体 |
| 分辨率: | 0.01 μm (0.4 μin) |
| 量程: | Ra: 40um;其余: 199μm |
| 测针: | 5 μm的金刚石测针 |
| 传感器触力: | 200 mg |
| 精度: | 读数的5%+0.1 μm |
| 取样长度: | 0.8 mm |
| 驱动长度: | 5 mm |
| 驱动速度: | 2mm/s |
| 电池续航: | 超过10,000次测量 |
| 待机时间: | 5000小时 |
| 校准方法: | 自动软件校准程序 |
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