SANKO三高永磁式膜厚计微测
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2021-06-18 16:53:21
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深圳市福池电子科技有限公司

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产品简介

SANKO三高永磁式膜厚计微测
SANKO三高超声波测厚仪SF-1150
用于SF双层罐体的测试确认
双层壳SF容器间隙检查·FRP壁厚测定
应用程序使用
◆SF双层壳体的壳壁中传感层的粘附和间隙状态的检测比外壳（FRP）表面更容易。
◆用超声波测量玻璃钢的厚度

详细介绍

SANKO三高永磁式膜厚计微测

SANKO三高永磁式膜厚计微测

 

永磁式膜厚计微测定位不必要的调整
　
永磁式膜厚计微测
 
◆调整简单，无需调整。
◆它以磁力为导向。
 
应用程序使用
 
◆对于一般涂层（铁基体上的非磁性涂层）
 
产品规格
 
测量范围
模拟型（不需要电源）
·G-6......0至100μm
·F-5，F-6......0至1000μm
·S5-6......0.5至5毫米
·S10-6......2.5 - 10毫米
  
工作温度-20至100°C（非冷凝）
尺寸重量218（W）×55（H）×25（D）mm，250g
附件存储箱
超声波测厚仪SF-1150用于SF双层罐体的测试确认
　
SF-1150
◆双层壳SF容器间隙检查·FRP壁厚测定
应用程序使用
◆SF双层壳体的壳壁中传感层的粘附和间隙状态的检测比外壳（FRP）表面更容易。
◆用超声波测量玻璃钢的厚度
 
产品规格
 
测量方法脉冲反射法（一种搜索法）
使用的频率1到2 MHz
显示方法液晶数字（带EL照明）
测量范围1.0至50.0毫米
模式自动切换（标准/厚板）
测量精度±0.1毫米
声速调节范围500至9999米/秒
探头蚀子2C20N-DL型
电源AA碱性电池（1.5 V）X 1 
约12小时（EL点亮约8小时）
工作温度范围-10至50°C（非冷凝）
尺寸重量66（W）×180（H）×28（D）mm，360g
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