一、进行高频测量时更改绕组匝数后，为什么铁芯损耗测量值会出现差异？

      产生差异的原因之一可能是受到了LC并联谐振现象的影响。谐振频率根据绕组匝数而变化。如果检测电压、检测电流均在B-H分析仪的可测量范围即可执行铁芯损耗测量，但B-H分析仪的输入电容C与试样的电感L会形成LC并联谐振电路，所以在执行高频测量时需注意。使用时，请确保测量频率在谐振频率的1/10以下。谐振频率fc可通过以下公式进行计算。

      L：试样的电感　C：B-H分析仪的输入电容（SY-8218 / SY-8219约为18.5pF） N1：1次绕组匝数　N2：2次绕组匝数　

      此外，如果是高相位角(≧约87°)的试样，其谐振影响将会变大，测量高相位角的试样时，建议以谐振频率1/20以下的频率执行测量。
      原因之二可能是受到了试样内部磁场(的强度)、或磁通密度B的不均衡影响。试样磁导率较低、形状非环形、或绕组不均衡时，试样内部的H、B的大小大多会根据试样的位置而异。更改绕组匝数后，H的平均励磁位置、或B的平均检测位置会发生变化，从而使铁芯损耗产生差异。

二、B-H分析仪测量线圈时绕组匝数和合理绕组方式

（1）适合测量的绕组匝数是多少？

推荐绕组匝数如下所示。
励磁线圈N1：3圈以上
检测线圈N2：1圈以上且N1≧N2

N1较少时所需磁场(的强度)则需要更大的电流，N2较多时检测到的感应电压会增加。 此外，N1。

（2）试样线圈的合理绕组方式是什么？

      线圈应尽可能按相同间隔绕于试样上，以确保磁芯内的磁场(的强度)达到均衡、或磁通密度的检测部位不会发生偏移。尤其是检测线圈，应贴合试样进行绕线，以确保无效磁通不会在检测线圈与磁芯之间的空隙中发生锁交。励磁线圈与检测线圈重叠时，先绕至检测线圈使其与试样贴合。励磁线圈与检测线圈的绕组匝数相同时，建议采用双线绕组的方式。双线绕组是指1次绕组(励磁线圈)和2次绕组(检测线圈)配套绕组，与分别各自绕组相比可减少漏磁通，改善1次～2次之间的耦合系数。

【参照】双线绕组

三、通过正弦波励磁使Bm的值增大后，测得的电流、或电压波形不是正弦波形而且失真的原因

波形失真现象是试样的特性。相对磁场(的强度)H的磁通密度B的大小会发生非线形变化所致。尤其是接近试样的饱和磁通密度后，波形失真会更加明显。

四、B-H分析仪测量时，铁芯损耗等测量值发生大幅度变化的原因

软磁性体一般均具有温度特性。尤其是铁氧体在接近室温时的磁力特性不稳定。B-H分析仪想要正确执行软磁性体的磁力特性测量时，需通过恒温箱使试样保持一定温度的状态下执行测量。

      此外，根据不同的材料，磁力特性有时会因励磁时间及励磁历史而发生变化，与试样温度无关。追加选配件的连续测量功能SY-811后，可观测MAX 99,999min(约70天)的磁力特性每1[min]的时间变化。如果磁力特性在每次测量时都会发生较大变化，则建议通过SY-811执行连续测量，确认磁力特性是否会因励磁时间而发生时间变化。