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矢量网络分析仪测试光芯片调制带宽的方法

时间:2024-10-29      阅读:46

随着光通信的迅猛发展,对光电器件的测量需要越来越多,虽然有专门的光波器件分析仪,但存在价格昂贵,功能单一的弱点,推荐一款矢量网络分析仪,配合校准模块,是一种高精度,高性价比的矢量网络分析仪测试光芯片调制带宽的方法!这款矢量网络分析仪频率范围10MHz-70GHz,可以分析诸多类型的宽带光电器件(电/光、光/电、光/光),比如激光驱动器、放大器、激光器、转换器、光调制器、光电二极管和光有源器件。


一、E/O 和 O/E测量项目:


光电传输特性(S21,带宽,带内平坦度,相位线性度,群时延)
电口回波损耗(S11或S22)




E/E测量项目:
S参数(S11,S21,S12,S22)
增益压缩(Pout vs Pin)时域特性(器件响应时间)

二、测量示意图:
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矢量网络分析仪

       MN4765A O/E校准模块是根据美国国家标准实验室标准(NSLT)进行指标覆盖频率范围的全频段校准。并提供标准校准数据(S2P文件),供用户使用,性能如下:

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三、测量方法
(1)在矢网测量中,完成对电口测量的校准。
(2)接入光回路,由于E/O和O/E器件成对地存在,对于矢网来说并不存在光口的测量,只有电口的S21回路,而在此回路上有E/O和O/E两个模块的共同影响。
(3)将已定标的O/E器件的参数输入矢量网络分析仪。
(4)将O/E的影响由S21测量值中剥离,那么剩下的就是E/O加上光缆的参数了。所谓剥离,即将已知的O/E器件的S参数从测量值中减去(矢量运算)。到此为止,与E/O测量并无区别。
(5)既然,E/O的参数已测得,被测O/E模块接入回路(替换定标器件),将E/O器件的S参数从测量值中剥离,这样就测得了E/O器件得参数。
(6)第①次剥离,将定标标准由已定标的O/E转移至E/O器件上,第二次剥离,将定标标准再转回被测的O/E器件。

四、矢量网络分析仪测试光芯片调制带宽的方案测量实例:
       在某客户处实际测量了一个OE模块, 该模块是用于CATV有线电视系统的, 使用频率范围约1GHz。前期用户使用过其它公司的LCA分析仪,但测试的结果不理想。
(1)首先设置VNA参数,进行仪表校准。校准要求包括S21校准,可以选择使用full-2 port校准,也可以1 Path  2 Port(1->2)校准方法。校准完成后,将校准数据存储为  *.chx文件。
(2)如图连接EO-OE模块进行参数测试, 并将测量的S参数存储为*.S2p文件(如EOOE.s2p)。

矢量网络分析仪

(3)按仪表Measurements菜单O/E-E/O菜单E/O Measurements菜单, 按要求调入校准文件*.chx和存储的EOOE.s2p文件,再执行Done。此时显示的曲线数据既是EO模块的性能, 存储为EO.s2p文件。

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(4)退出O/E-E/O测量模式,将矢网回到正常的是S参数测量模式。

矢量网络分析仪

(5)按仪表Measurements菜单O/E-E/O菜单O/E Measurements菜单, 按要求调入校准文件*.chx和存储的EO.s2p文件,再执行Done。此时显示的曲线数据既是O/E模块的性能, 可以存储为OE.s2p文件。

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       可见用户的OE模块工作频率范围是47MHz-1000MHz,增益约为24-29dB,平坦度约为±3dB。满足指标要求。

(6)对用户的OE模块,我们又测试了S22指标及阻抗数据:

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       S22的回波损耗,在100MHz范围内小于-14dB。

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五、总结
     采用MN4765A O/E标准件与矢量网络分析仪组成光电器件网络分析仪
1、10MHz-70 GHz测量能力,提供可以追溯至NIST标准的O/E测量附件
2、矢网内置植入和剥离运算功能,可以简化校准及测试光电器件步骤
3、快速测量,增加测量吞吐量
4、测量稳定性和测量重复性
5、高性价比的O/E-E/O测量方案



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