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日本Kurabo Industries 的薄膜厚度检测仪介绍

时间:2022-06-27      阅读:811

日本Kurabo Industries 的薄膜厚度检测仪介绍

红外光谱广泛用于化学成分的定性/定量分析。
Kurabo Industries 的薄膜厚度计是一种带有所谓“化学眼”的测量仪器,它针对您想要使用这种红外技术测量的层和组件。

塑料薄膜生产线介绍实例







我们提供使用 T 型模具进行厚度控制所需的
高精度厚度信息。

不仅可以测量锂离子电池的隔膜基膜,还可以分别测量各层的各种耐热涂层的厚度。

测量应用

  • LIB隔膜基膜基重

  • LIB 隔离层厚度

  • 以上同时测量

  • 湿法/干法过程中各种微量成分的测量

RX-4100

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测量规格
光度法红外线吸收法
光谱法旋转过滤方式(可安装6张)
测量距离20mm(两个传感器头之间:40mm)
测量区域20 x 30 mm(椭圆形)RX-4000:2 个点,RX-4100:1 个点
机身规格
传感头
  • RX-4100 外形尺寸:泛光传感器410(W)x 164(D)x 190(H)(不包括突起) 受光
    传感器410(W)x 164(D)x 160(H)(不包括突起)

RX-4100 重量:泛光灯传感器10.4kg,光接收传感器8.6kg
继电器单元外形尺寸:322(W)x 140(D)x 113(H)(不包括突出部分)
重量:4公斤
电源:AC100V±10% 50 / 60Hz 200VA
外部输出RS422A (9600BPS) 数字输出至上位机
工作温度5-40°C(无冷凝,35°C以上环境需要空气吹扫)





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