从耦合电容的结构可知，整台耦合电容器是由1 00个左右的单元件串联后组成的。就电容量而言，其变化+IO%，在100个单元件如有10个以下的元件发生短路损坏，仍在允许范围之内。此时，另外90个左右单元电容要承担较高的运行电压，这对运行中的耦合电容器的绝缘造成了极大的危害。    
    造成耦合电容器损坏事故的主要原因多数是由于在出厂时就带有一定的先天缺陷的厂家对电容芯子烘干不好，留有较多的水分；或元件卷制后没有及时转入压装’造成元件在空气中的滞留时间太长，另外，还有在卷制中碰破电容器纸等。个别电容器由于胶圈密封不严，进入水分。此时一部分沉积在电容器底部，另一部分水分在交流电场作用下将悬浮在油层的表面，此时如顶部单元件电容器有气隙，它容易吸收水分，又由于顶部电容器的场强较高，这部分电容器易损坏。对损坏的电容器解体后分析得知，电容器表面已形成水膜，由于表面存在杂质，使水膜迅速电离而导电，引起电容量的漂移，介电强度、电晕电压和绝缘电阻降低，损耗增大，从而使电容器发热，后造成了电容器的失效。所以每年的预防性试验测量绝缘电阻、介质损耗因数并计算出电容量是十分必要的。
    电容器的击穿往往是与电场的不均匀相联系的，在很大程度上决定于宏观结构和工艺条件，而电容器的击穿就发生在这些弱点处。在电容器内部，无论是先天缺陷还是在运行中受潮，都首先造成部分电容器损坏，运行电压将被完好电容器重新分配，此时每个单元件上的电压较正常时偏高，从而导致完好的电容器继续损坏，后导致电容器击穿。
    为了减少耦合电容器的爆炸事故发生，对运行中的耦合电容器应连续监测与带电测量电容电流，并分析电容量的变化情况。