光学膜厚测量设备

Frontier Semiconductor光学膜厚测量设备

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2023-05-24 13:19:31
369
属性:
产地类别:进口;产品种类:非接触式轮廓仪/粗糙度仪;价格区间:面议;应用领域:电子,航天,司法,汽车,电气;
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产品属性
产地类别
进口
产品种类
非接触式轮廓仪/粗糙度仪
价格区间
面议
应用领域
电子,航天,司法,汽车,电气
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上海富瞻环保科技有限公司

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产品简介

三维表面测量系统
布鲁克NPFLEX三维表面测量系统为大样品的表面表征测量提供了灵活的非接触式的方案,超过300度的测量空间,克服了以往由于零件某些角度或取向问题造成的测量困难。NPFLEX是针对大型、异型工件进行非接触测量,获得微米级、毫米级样品形貌特征的三维表面测量系统。

详细介绍

产品品牌:Bruker

产品型号:NP Flex

产品描述:布鲁克NPFLEX 三维表面测量系统为大样品的表面表征测量提供了灵活的非接触式的方案,超过300度的测量空间,克服了以


三维表面测量系统

   为大尺寸工件加工提供非接触准确测量布鲁克的NPFlex三维表面测量系统为大样品的表面表征测量提供了灵活的非接触式的方案,可广泛用于医疗植入,航空航天、汽车或加工上的大型、异型工件的测量。基于白光干涉原理,NPFlex为用户提供超过接触式方法所能达到的更大数据量、更高分辨率和更好的重复性,使它成为互补型的测量方案。

   开放式的龙门设计克服了以往某些零件由于角度或取向造成的测量困难,现在NPFlex可实现超过300度的测量空间。NPFlex的灵活性、数据准确性和测试效率为加工行业提供了一种简单的方法,来实现其更苛刻的加工要求、加工工艺和更好的终端产品。

   布鲁克NPFLEX三维表面测量系统为大样品的表面表征测量提供了灵活的非接触式的方案,超过300度的测量空间,克服了以往由于零件某些角度或取向问题造成的测量困难。NPFLEX是针对大型、异型工件进行非接触测量,获得微米级、毫米级样品形貌特征的三维表面测量系统

   其灵活性表现在可用于测量表征更大的面型和更难测的角度

   ·空间设计使得可测零件(样品)更大、形状更多

   ·开放式龙门、定制的夹具和可选的摇摆测量头可轻松测量想测部位

   三维表面信息测量

   ·每次测量均可获取多种分析结果

   ·更容易获得更多的测量数据来帮助分析

   垂直方向可达纳米级分辨率,提供更多的细节

   ·干涉技术实现每一个测量象素点上亚纳米级垂直分辨率

   快速获取测量数据,测试过程迅速

   ·少的样品准备时间和测量准备时间

   ·比接触法测量(一条线)更大的视场(一个面)获得表面更多的数据




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