不同环境对于电阻的影响
时间:2022-07-19 阅读:1467
GHT-G-绝缘材料体积表面积电阻率测试仪
一.GHT-G-绝缘材料体积表面积电阻率测试仪概况:
(1)适用标准:GB/T 22042-2008《服装 防静电性能 表面电阻率试验方法》;EN 1149-1-1995 《防护服 静电性能 第1部分表面电阻检验方法和要求》;GB/T 1410-2006《固体绝缘材料体积电阻率和表面电阻率试验方法》(与标准IEC93-1980等效);FZ/T 64013-2008 《静电植绒毛绒》;SJ/10694-2006《电子产品制造与应用系统防静电检测通用规范》6.1及ASTM D257《绝缘材料的直流电阻或电导试验方法》要求制作。 GB/T 2439-2001《硫化橡胶或热塑性橡胶 导电性能和耗散性能电阻率的测定》;GB/T 10581-2006 《绝缘材料在高温下电阻和电阻率的试验方法》 ;GB/T 1692-2008 《硫化橡胶绝缘电阻率的测定》;GB/T 12703.4-2010 《纺织品静电性能的评定 第4部分:电阻率》
GB/T 10064-2006《测定固体绝缘材料绝缘电阻的试验方法》。
二.适用范围:
适用于测量粉末、粉体、颗粒物、电子元器件、介质材料、电线电缆、防静电产品、如防静电鞋、防静电塑料橡胶制品、计算机房防静电活动地板等电阻值等绝缘性能的检验和电子电器产品的绝缘电阻测量。
三.绝缘材料体积电阻率测试仪特点:
本仪器既可测量超高电阻,又可测极微弱电流。采用了大规模集成电路以及新的技 术,使仪器体积小、重量轻、准确度高。以数字液晶显示电阻并同时直接显示流过被测电阻的电流。电阻量程从1×104Ω ~1×1018Ω,电流测量范围 为2 ×10-4A ~1 ×10-16A。机内测试电压为DC0-1000v无极可调
四.绝缘材料体积电阻率测试仪主要参数:
1.电阻测量范围:0.01×104Ω ~1×1018Ω,
2.电流测量范围: 2×10-4A~1×10-16A,
3.显示方式:触摸屏显示
4.内置测试电压:0-1000v
5.基本准确度:准确度优于国家标准(详见GBT3048.5-2007标准要求)
量程 | 有效显示范围 | 20~30℃ RH<80% |
104 | 0.01~19.99 | 1% |
105 | 0.01~19.99 | 2% |
106 | 0.01~19.99 | 3% |
107 | 0.01~19.99 | 4% |
108 | 0.01~19.99 | 5% |
109 | 0.01~19.99 | 5% |
1010 | 0.01~19.99 | 5%+2字 |
1011 | 0.01~19.99 | 5%+2字 |
1012 | 0.01~19.99 | 5%+5字 |
1013 | 0.01~19.99 | 10%+5字 |
1014 | 0.01~19.99 | 10%+5字 |
1014以上 | 0.01~19.99 | 10-15%+5字 |
6.使用环境: 温度:0℃~40℃,相对湿度<80%
7.机内测试电压: 0-1000v 任意切换
8.供电形式: AC 220V,50HZ,功耗约10W
绝缘材料体积电阻率测试仪工作特点:
根据欧姆定律,被测电阻Rx等于施加电压V除以通过的电流I。传统的高阻计的工作原理是测量电压V固定,通过测量流过取样电阻的电流I来得到电阻值。从欧姆定律可以看出,由于电流I是与电阻成反比,而不是成正比,所以电阻的显示值是非线性的,即电阻无穷大时,电流为零,即表头的零位处是∞,其附近的刻度非常密,分辨率很低。整个刻度是非线性的。又由于测量不同的电阻时,其电压V也会有些变化,所以普通的高阻计是精度差、分辨率低。
本台电阻率测试仪是同时测出电阻两端的电压V和流过电阻的电流I,通过内部的大规模集成电路完成电压除以电流的计算,然后把所得到的结果经过A/D转换后以数字显示出电阻值,即便是电阻两端的电压V和流过电阻的电流I是同时变化,其显示的电阻值不象普通高阻计那样因被测电压V的变化或电流I的变化而变,所以,即使测量电压、被测量电阻、电源电压等发生变化对其结果影响不大,其测量精度很高(),从理论上讲其误差可以做到零,而实际误差可以做到千分之几或万分之几。
售后服务:
山西冠恒精电仪器设备有限公司是集专业设计、开发、生产与销售于一体的技术股份制企业,专注于新型材料试验机的研制、材料检测技术的提高及材料试验方法的创新,是国内的材料试验检测仪器的生产企业。
我们承诺在接到客户问题反馈3小时,给出相应解决方法、如遇到需要上门服务时,会根据客户要求上门服务。本仪器质保1年,在质保期内,除人为因素原因,不可抗拒的环境因素外,维修免费。并且可根据客户反馈信息进行仪器升级,仪器升级后新老客户可申请已旧换新业务,具体电联可详谈,本公司对上诉有*终解释权。
影响电阻的因素一.环境因素的影响环境因素是指产生点阵畸变的外界条件,主要指温度和应力。(一)温度的影响若认为导电电子是*自由的,而原子的振动彼此无关,则电子的平均自由程与晶格振动的振幅平方的平均值成反比。由于与温度成正比,所以ρ∝T。在理想完整的晶体中,电子的散射只取决于温度所造成的点阵动畸变,即金属的电阻取决于离子的热振动。当温度高于时,纯金属的电阻和温度成正比。(2—9)式中α为电阻温度系数,过渡族金属,特别是铁磁金属的α值较大,约为10-2数量级,其它金属α值均为10-3数量级;表示温度变化△T时ρ的变化。若考虑振动原子与导电电子间的相互作用,用量子力学方法可以获得低温下(低于)电阻的表达式,为(2—10)式中A为系数,为积分变数。低温时,积分值趋于常数124.4,因此,。它类似于比热容的德拜三次方定律。式(2—11)也称格留乃申定律。的关系对于多数金属都适用。对于过渡族金属则(n为2.0一5.3)。一般金属,当温度接近0 K时,仍有残留电阻。但有些金属,例如Ti、V、Nb、Zr、Al等,当温度低于某临界值时电阻下降为零,它们被称为超导金属。金属溶化时,由于点阵规律性遭到破坏及原子间结合力的变化,熔点(Tm)处液态金属的电阻比固态约大一倍。除Ga、Hg、Sb、Bi外,大多数金属熔化时电阻的跃变可通过式(2—11)计算( )Tm=exp(KtLmTm) (2—11)式中Lm为熔化潜热(kJ/mol);ρL和ρS分别为Tm处液态和固态的电阻率;K1为系数,其值为80kJ-1·mol·K-1。(二)应力的影响弹性范围内的单向拉应力,能使原子间的距离增大,点阵的动畸变增大,由此导致金属的电阻增大。电阻率与应力之间有如下的关系(2—12)式中ρT为受拉应力作用下的电阻率;ρ0为未加负荷时的电阻率;αT为应力系数;σ为拉应力。铁在室温下的应力系数αT约为2.11—2.13×10-11Pa-1。压力对电阻的影响恰好与拉应力相反,由于压力能使原子间距变小,点阵动畸变减小,大多数金属在三向压力(低于1200MPa)的作用下,电阻率都下降,并且有如下的关系(2—13)式中为三向拉力下的电阻率;为真空下的电阻率;p为压力;φ为压力系数,是负值。二、组织结构的影响组织结构是影响电阻的内部因素,金属及合金的结构取决于塑性形变及热处理工艺。(一)塑性形变的影响形变使金属的电阻增大。铝、钢、铁、银和其它一些金属在具有显著的加工硬化时,它们的电阻率增加约2—6%,只有钨是例外,大量挤压之后,电阻可增大百分之几十。金属经过塑性形变使电阻增大的原因是由于形变使点阵产生缺陷和畸变,导致电子波的散射增强;此外,冷加工也可能引起原子间的结合性质发生变化,从而对电阻产生影响。如果用ρ0表示未经加工硬化金属的电阻率,△ρ表示加工硬化产生的附加电阻率,金属加工硬化后的电阻率ρ=ρ0+△ρ。从电阻和温度的关系可知,当温度降低时ρ0减小,在0k时趋近于零。附加电阻△ρ只受加工程度的影响,与温度无关,即便是温度为0k时它仍然存在,故称为残留电阻。△ρ/ρ随温度降低而增大,所以用低温测量电阻的方法研究加工硬化是很合适的。形变金属的电阻增大与形变量及形变温度有关。钽丝经扭转形变,△ρ/ρ0和扭转形变量的关系如图2—5所示。于77K和298K测量的结果表明,电阻随形变量增大而增大;并且形变温度愈低,电阻增加得就愈快。从图2—5可以看到电阻的变化反映了形变强化的一般规律。图2-5 钽丝电阻的相对变化和扭转形变的关系(二)热处理的影响形变和应力都能破坏周期场的规整性,使电阻增大,若对加工硬化的金属进行退火,使它产生回复和再结晶,电阻就必然下降。例如,纯铁经过加工硬化之后,进行100℃退火处理,电阻便有明显地降低。如要进行520℃退火,电阻便恢复到加工前的水平。但当退火温度高于再结晶温度时,由于再结晶生成的新晶粒很细小,所以晶界较多,晶界是一种面缺陷,因此电阻反而有所增高。